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上海皆准仪器设备有限公司

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美国 Defelsko PosiTector 6000 NAS3 涂层测厚仪

  • 参考价: 咨询
  • 型号:
  • 品牌: $brandModel.Title
  • 所属地区:中国大陆
  • 原产地:上海-上海市
  • 产品摘要:美国 Defelsko PosiTector 6000 NAS3 涂层测厚仪专为测量铝基氧化膜而设计,NAS3型涂层测厚仪可测0-625μm范围内膜厚,高精度,1w数据存储,标配PosiTector分析软件。

产品完善度:

更新时间:2026/10/4 7:23:17关注度:1379

关键词标签:涂层测厚仪,,美国,Defelsko测厚仪,,镀层测厚仪

支付方式:

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产品概述

美国Defelsko PosiTector 6000 NAS3涂层测厚仪是PosiTector 6000系列高级型涂层测厚仪,采用电涡流测厚原理,高对比度液晶显示屏,可存储100000个测厚读数,并且能够通过蓝牙无线技术进行数据传输,测量稳定可靠,并且能够显示彩色对比曲线,更方便用户进行数据分析。涂层测厚仪PosiTector 6000 NAS3美国原装进口,品质保证。

单功能:

底材:非铁质金属(铝、铜类)

涂层:非导电涂层

NAS3——非铁质金属(铝、铜类),阳极氧化铝膜测量

Defelsko PosiTector 6000 NAS3 涂层测厚仪规格参数Specs

型号

PosiTector 6000 NAS3

功能

高对比度彩色显示屏,可记录/下载100000个读数,通过蓝牙无线技术传输设计,可拆分更换探头,与所有主机兼容,阳极氧化铝膜测量

标配

主机、分体探头、标准试片、带腰夹的橡胶保护套、三节7号电池、证书、说明书、尼龙包,USB数据线,PosiTector分析软件

测试环境

非铁质金属底材(如铜铝类)非导电涂层环境

尺寸

146 x 64 x 31 mm

重量

165 g(不含电池)

保修期

2年

符合标准

ISO 2178/2360/2808, PrEN ISO 19840, ASTM B499 / D1186 / D1400 / D7091/ E376 / G12, BS3900-C5, SSPC-PA2 及其它标准

探头参数

测量范围

测量精度

查看更多

0~625 um

+ (.5 um + 1%) 0~100 um

+ (2 um + 3%) > 100 um



Defelsko PosiTector 6000 NAS3 涂层测厚仪包装清单Detail

名称

型号

说明书

画册

操作说明书

清单

涂层测厚仪

PosiTector 6000 NAS3







主机x1、分体探头x1、标准试片(一套)x1、带腰夹的橡胶保护套x1、7号电池x3、证书x1、说明书x1、尼龙包x1、USB数据线x1、PosiTector分析软件x1

【注意】因厂家包装可能更新或升级,详细包装清单以厂家最新标配为准。







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