美国Filmetrics公司生产的薄膜测厚仪是以F20为平台，具有其系列的所有优点：利用光谱反射的原理，测量精度达到埃级的分辨率，测量快，操作简单及最具性价比的薄膜厚度测量设备。Filmetrics公司的设备测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm，测量厚度从30A到500um范围。凡是光滑的，透明或半透明的，或是对光有吸收的膜层都可以测量。

F20是Filmetrics公司的标配专用仪器，以其低廉的价格，优越的性能赢得客户的好评，它们在全世界被用于几千种用途。厚度和折射率在几秒钟内就能得到测量。就像我们所有的台式仪器一样，F20需要连接到您装有Windows计算机的USB端口上并在数分钟内即可完成设定。

不同的F20膜厚测量仪主要是根据波长范围来加以区分的。标准的F20是我们最为普遍的产品。较短的波长，（例如F20-UV），一般用于测量较薄的厚膜，而较长的波长（例如F20-NIR），则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

产品应用：

半导体行业：光阻、氧化物、氮化物

LCD行业：液晶盒间隙厚度、Polyimides

光电镀膜应用：硬化膜、抗反射膜、滤波片

LED行业：用F20来测量透明的蓝宝石上的光刻胶，ITO，多层氧化硅氧化钛等薄膜厚度，该机操作简易，毫秒间就能测量出准确的数据。

具体型号及技术要求欢迎来电咨询。

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联系方式：

苏州诺威特测控科技有限公司

Add：中国苏州市高新技术开发区金枫南路198号

联系人：邹小姐

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E-mail:info@novtec.hk

http://www.novtec.hk

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