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NanoScan 2s Si/9/5扫描狭缝轮廓分析仪

价格：￥电议

品牌名称：$brandModel.Title型号：原产地：中国大陆更新时间：2026/11/9 9:03:07

产品摘要：
种 NanoScan 扫描狭缝轮廓分析系统使用其硅探测器准确捕获和分析 190nm - 1100nm 的波长。它具有适用于大多数光束的狭缝尺寸、近乎实时的数据捕获率、可选的功率测量功能，并在 CW 或 kHz 脉冲模式下运行，这使其成为紫外、可见光和近红外激光综合分析的理想选择。

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详细内容

NanoScan 2s Si/9/5扫描狭缝轮廓分析仪

扫描狭缝轮廓仪：硅探测器，9mm 孔径，5µm 狭缝

描述：

这种 NanoScan 扫描狭缝轮廓分析系统使用其硅探测器准确捕获和分析 190nm - 1100nm 的波长。它具有适用于大多数光束的狭缝尺寸、近乎实时的数据捕获率、可选的功率测量功能，并在 CW 或 kHz 脉冲模式下运行，这使其成为紫外、可见光和近红外激光综合分析的理想选择。

20µm 至 ~6mm 的光束尺寸

~10nW 至 ~10W 的功率水平

USB 2.0 接口

包括 NanoScan Standard 或 Professional 软件

波长190-1100nm

光束尺寸20μm - ~6mm

界面USB 2.0

传感器类型硅

兼容的光源CW，脉冲 >25kHz

功率范围~10nW - ~10W

狭缝尺寸5微米

孔径大小9mm

扫描头尺寸83mm

遵守CE、UKCA、中国 RoHS

产品型号：

1. NanoScan 2s Si/9/5

2. NanoScan 2s Ge/3.5/1.8

3. NanoScan 2s Ge/9/5

4. NanoScan 2s Pyro/9/5

5. .NanoScan 2s Si/3.5/1.8

使用NanoScan的狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪

NanoScan™激光光束轮廓分析仪为您提供所*有的光束测量体验。狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪的优点在于测量光束位置和大小时可获得亚微米精度及NIST可追踪精度。扫描头配置包括硅、锗或热释电版本，可用于广泛的波长和激光功率范围。NanoScan软件可提供两种版本：标准版和业版，并且包括广泛的ISO定量测量和M2向导，并能测量激光功率。

NanoScan 狭缝扫描式光斑分析仪可测量连续激光以及KHz重复频率的脉冲激光，其精度及准确度可溯源NIST标准，测量光谱范围覆盖紫外到远红外。狭缝扫描技术使得激光光斑的测量变得更为便捷，即使是高功率的激光光斑或者焦点处光斑也不需要考虑复杂的衰减系统。NanoScan系列有多种探测器可供选择包括硅、锗、热释电等，可覆盖很宽的光谱范围和功率别，广泛应用各类科研及工业激光的测量。

主要参数：

探测器材质	功率范围	波长范围	孔径大小	狭缝大小	探头尺寸
Silicon 硅	～100nW-～100mW	190nm-1000nm	3.5mm	1.8µm	63mm
			9mm	5µm	63mm
				25µm
			25mm	25µm	100mm
Germanium 锗	～1µW-～100mW	700nm-1800nm	3.5mm	1.8µm	63mm
			9mm	5µm	63mm
				25µm
			25mm	25µm	100mm
Pyroelectric 热释电	100mW-100W	190nm->100µm	9mm	5µm	63mm
				25µm
			20mm	25µm	100mm

主要功能：
1.可测量激光光斑的XY位置，其不确定度小于300nm
2.光斑大小的测量精度可达2%
3.35dB高动态范围
4.可给出高精度的指向稳定性参数
5.可模拟显示2D/3D光斑形貌
5.简单的图形操作软件操作十分便捷
6.可二次开发的动态链接控件为OEM用户的系统集成提供方便

深圳市奥德赛创精密仪器有限公司，业代理日本NMB、德国PTL、德国WAZAU、德国NOVO、日本SSS、日本M-SYSTEM、日本noiseken、日本东、日本Liniax、日本TEAC、日本FUJI富士、日本Magnescale（原SONY）、日本志贺SIGA、日本ASANHI KEIKI旭计器、英国RDP、英国SETech、美国AST、美国MSP、美国ED&D、美国MEAS、美国MONROE、色列OPHIR,日本椿本、等国际杰出品牌检测仪器。我司有能力及时向用户提供高质量的产品和优良的售后服务，为保证上等及时效劳实现，我司有工作丰富的工程师队伍，对用户采购的产品提供一线售后技术支持。欢迎广大用户来电咨询，我司将竭诚为您服务，谢谢！

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