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先锋科技(香港)股份有限公司

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OLED/QLED发光器件寿命测试系统发光器件寿命测试

  • 参考价: 咨询
  • 型号:发光器件寿命测试
  • 品牌: $brandModel.Title
  • 所属地区:
  • 原产地:-
  • 产品摘要:OLED/QLED发光器件寿命测试系统

产品完善度:

更新时间:2026/9/21 9:14:07关注度:967

关键词标签:OLED/QLED发光器件寿命测试系统

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OLED/QLED 发光器件寿命测试系统

未标题-1.jpg


32 路系统 64 路系统

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统参数

项目

关键指标

备注

通道数量

32、64、128

可扩展到512 路

测量模式1

恒流、恒压、恒亮度

需根据客户需求选定

测量模式2

Pulse 电压、Pulse 电流

选配

电流输出

0.03uA~100mA,精度优于±1%

用户参照核心技术电流源选配

电压输出

饱和亮度

1.0~20V,精度<±1% 通常10000cd/m2 以上

标配

可根据客户需求定制

器件结构

底发光、顶发光、倒装、正装

需根据用户需求定制

测试盒/ 夹具

测试基片尺寸 5cm×5cm

可定制支持20cm×20cm

高温测试

RT+10 度~100 度;-50 度~100 度;环境测试

选配

特殊条件

特殊气氛测试;手套箱测试;UPS 电源等

选配、定制

软件平台

LabView

稳定、高效







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