SR750 超高分辨率光谱仪

结合创新型的光学器件设计，SR⁻⁷50 配合Andor 公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR⁻⁷50 可以配用多种附件，拓展应用领域，在透射/ 反射/ 吸收光谱、Raman 光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供最佳的系统解决方案。

SR750 超高分辨率光谱仪主要特点：

? 分辨率最高可达0.02nm

? 多路光谱优化光路，低串扰，高密度多路光谱探测

? 针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息，便于以后光栅升级

? 双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求

? 多样化的附件选择

? 支持单点探测器，波长最大可达12µm

? 光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能

SR750 超高分辨率光谱仪技术参数指标：

SR750 超高分辨率光谱仪配置选项：

附件选项：

光纤、法兰、动态狭缝、快门、光栅、可调底脚