H型号XRF-2000镀层测厚仪韩国先锋

XRF-2000测厚仪韩国Micropioneer

型号规格

L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

仪器整机*，配置全自动台面，自动雷射对焦,多实现多点自动测量

H型号XRF-2000镀层测厚仪韩国先锋

将X射线照射在样品上

通过从样品上反射出来的第二次X射线强度来测量镀层等金属镀层的厚度。

金属镀层厚度的测量方法有多种，其中X射线荧光法是无接触无损测量

可测单镀层、双镀层、合金镀层，不受底材影响。

应用：

各种金属或塑胶电子零件,五金工件,端子连接器等

表面镀铜镍银锌锡及锌镍合金等电镀层厚度测量

测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

H型号XRF-2000镀层测厚仪韩国先锋(机箱容纳样品高12cm内）

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等，不限底材。