您的位置:阿仪网 > 分析仪器 > 电化学仪器 > 电导率仪 > 上海瞬渺光电技术有限公司 > 产品展示 > 四探针测试仪 > CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪CDE resmap 168

联系我们

联系人:李飘

点击查看联系方式

产品展示

CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪

CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪

点击次数:495

价格:¥电议

更新日期:2026/3/19 16:31:43

生 产 地:

产品型号:CDE resmap 168

简单介绍:Resmap168型四点探针测试仪是专门为光伏电池生产企业设计的一款产品。提供可靠,准确和重复性好的四点探针测试技术。168型带自动传送功能,从提高了产品的产量,从而降低导电材料产品的成本。

商家名片
李*
联系我时,请说明是阿仪网看到的,谢谢!
  • 电话: 02*******258
  • 手机: 15******887
  • 微信:
  • 交换名片后展示联系方式 → →
相关标签:CDE,resmap,168,全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪

详细内容

CDE 四探针电阻率电导率测试仪 Resmap168


Resmap168型四点探针测试仪是专门为光伏电池生产企业设计的一款产品。提供可靠,准确和重复性好的四点探针测试技术。168型带自动传送功能,从提高了产品的产量,从而降低导电材料产品的成本。

提供NIST标准片6片!

产品特点:操作简单、快速精确

电阻测量范围:1 mΩ/方块 - 5 MΩ/方块

典型应用:非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等


美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。


美国CDE专利技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。

Resmap168测试性能指标:

探针材料 WC

探头寿命> 500W次

测量:


168,178和273的区别:


成功案例-美国CDE四探针测试仪

感谢以下客户购买美国美国CDE四探针测试仪

作为半导体行业四探针测试仪测试标准之一,购买美国CDE 四探针测试仪的单位非常多。

最近购买用户

科研客户:清华大学,天津大学,浙江大学 中山大学 浙江师范大学 ?复旦大学 北京师范大学 河北大学 。。。。。。

企业客户:上海超日太阳能 卡姆丹克太阳能 南玻光伏 荣马新能源 山东润峰电力 江苏腾晖电力 晶澳太阳能 海润光伏 常州比太 苏州阿特斯 西安隆基 高佳太阳能 江西旭阳雷迪 无锡尚德 武汉珈伟光伏 苏州中导光电 常州天合 。。。。。。

CDE,resmap,168,全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪

采购记录

优质供应

相关文章

  • 友情链接
  • 热词推荐
在线咨询5分钟应答

提交