影像测量仪主要应用于二维尺寸测量，适用于所有需要二维坐标测量的领域。其原理基于CCD数位影像技术，结合强大的计算机屏幕测量软件及空间几何运算能力。计算机在安装专用控制与图形测量软件后，成为设备的“智能大脑”，是整套系统的核心主体。

在影像测量仪的使用过程中，严格遵循以下两大原则至关重要：

一、 基本测量原则

对于同一被测量，可能存在多种测量方法。为减小测量不确定度，应尽可能遵守以下基本测量原则： 1. 基准统一原则：

要求： 测量基准应尽可能与加工基准和使用（设计）基准保持一致。

应用：工序测量： 应以工艺基准作为测量基准。

最终检测：应以设计基准作为测量基准。 2.阿贝原则 (Abbe Principle)：

要求：测量过程中，被测长度与作为基准的长度应**安置在同一直线上。

原因：若两者平行并排放置，测量比较时会因导轨制造误差或移动方向偏移，导致两长度间形成夹角，产生显著的余弦误差。此误差大小与夹角及两长度间的距离成正比，距离越大，误差越大。

二、 最短链原则

在间接测量中，与被测量存在函数关系的其他量会共同构成测量链。测量链的环节越多，最终被测量的不确定度（误差）就越大。因此，应尽可能减少测量链的环节数，以保证测量精度，这就是最短链原则。

核心思想： 优先采用直接测量。只有在无法直接测量或直接测量精度不足时，才考虑间接测量。

应用实例： 组合量块时，应使用最少数目的量块来拼出所需尺寸。

关联原则：最小变形原则

问题： 测量器具和被测零件可能因环境温度偏离标准温度或受力（重力、测量力）而发生变形，导致测量误差。

措施：

为减小变形误差，需：

1. 严格控制测量温度及其波动。

2. 保证测量器具与零件充分等温。

3. 选用线胀系数与零件相近的测量器具。

4. 选择并保持适当的、稳定的测量力。

5. 为零件选择合理的支承点。

原创作者：宁波怡信光电科技有限公司