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爱佩科技 芯片测试高低温冲击仪
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价格：￥电议
更新日期：2025/7/9 17:14:46
生 产 地：中国大陆
产品型号：AP-CJ-225B1
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胡*
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相关标签：二箱式冷热冲击试验机,冷热冲击试验箱,非标高低温冲击箱
详细内容
芯片测试高低温冲击仪广泛用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。
芯片测试高低温冲击仪技术参数：
内箱尺寸：30*30*30cm;36*35*40cm;50*40*40cm；60*40*40cm；60*50*50cm；70*60*60cm；
温度范围：A:-40℃~150℃；B:-55℃~150℃；C:-65℃~150℃；
温度暴露范围：+60～＋200℃
预热温度上限：200℃
升温时间：+20～＋200℃约40min
温度暴露范围：0～-65℃
预冷温度下限：⁻⁷5℃
降温时间：+20～⁻⁷0℃约60min
温度范围：-65～150℃
温度波动度：≤±0.5℃
温度偏差：≤±2℃
转换时间：≤10S
温度回复时间：≤5min
外壁材料：外材质可选SUS304不锈钢或者精粉体烤漆处理。
内壁材料：内板材质为SUS304不锈钢
加热系统：全独立系统，镍铬合金电加热式加热器
制冷系统：全封闭风冷单压缩制冷方式 /法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式
循环系统：耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
二箱式冷热冲击试验机,冷热冲击试验箱,非标高低温冲击箱
