联系我们
联系人：徐徐
薄膜分析设备
FEMTO放大器
高压放大器
Zurich Instruments
IDQ单光子探测器
单光子计数器
光学斩波器
SRS品牌放大器
IP防护等试具
激光功率能量计
粉红噪声发生器
安规检测仪器
瓷砖地板道路防滑测试仪
- DIN51130标准防滑测试仪
- 瓷砖防滑测试仪
- 地板防滑测试仪
- EN13893防滑测试仪
- DIN51131防滑测试仪
- 美标防滑测试仪
- BS7976防滑测试仪
- GB/T 4100-2015静摩擦系数测试仪
- 道路防滑测试仪
试验包
土壤水分传感器
IP防水测试
量规
高精度电流传感器
脉冲发生器
电子测量设备
实验室设备
德国K+K Phase + Frequency Meter
陶瓷砖测试设备
产品展示
SE300椭偏仪400nm到1000nm测量薄膜材料厚度
点击次数：478
价格：￥电议
更新日期：2026/9/9 16:21:38
生 产 地：中国大陆
产品型号：
商家名片
徐*
联系我时，请说明是阿仪网看到的，谢谢!
- 电话: 18********************810
- 手机: 18******562
- 微信:
- 交换名片后展示联系方式 → →
相关标签：SE300椭偏仪,椭偏仪,薄膜厚度
详细内容
SE300椭偏仪400nm到1000nm测量薄膜材料厚度
产品简介
SE300椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器，主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质。椭偏仪的主要原理是将自然光（紫外光、可见光以及红外光）变成完全偏振光后通过一定角度入射到样品上，偏振光进入样品介质后会反射回到椭偏仪检偏器内，由于样品介质会对偏振光的偏振态发生改变，而这种改变会被椭偏仪测量，椭偏仪就是利用这个介质对偏振光性质改变的原理来表征介质的性质的。
SE300型号实现400nm到1000 nm超长波段的探测，可实现对材料紫外、可见和红外波段的全覆盖测量研究，同时可搭配自动平台扫描、自动变角、微光斑探测以及平台加热等功能满足不同应用需求。
设备配置
探测器：阵列探测器
光源：高功率的DUV-Vis-NIR复合光源
测量角度变化：手动调节
软件：TFProbe 3.2版本的软件
计算机：Inter双核处理器、19”宽屏LCD显示器
电源：110–240V AC/50-60Hz，6A
保修：一年的整机及零备件保修
规格参数
波长范围：400nm到1000 nm
波长分辨率: 1nm
光斑尺寸：1mm至5mm可变
入射角范围：0到90度
入射角变化分辨率：5度间隔
样品尺寸：zui大直径为200mm或者150mm边长方形
基板尺寸：zui多可至20毫米厚
测量厚度范围*：5nm〜10μm
测量时间：约1/位置点
精度*：优于0.25％
重复性误差*：小于1 Ǻ
产品选型
用于反射的光度测量或透射测量；
用于测量小区域的微小光斑；
用于改变入射角度的自动量角器；
X－Y成像平台(X-Y模式，取代ρ-θ模式)；
加热/致冷平台；
样品垂直安装角度计；
波长可扩展到远DUV或IR范围；
扫描单色仪的配置；
联合MSP的数字成像功能，可用于对样品的图像进行测量等。
产品相册
产品简介
SE300椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器，主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质。椭偏仪的主要原理是将自然光（紫外光、可见光以及红外光）变成完全偏振光后通过一定角度入射到样品上，偏振光进入样品介质后会反射回到椭偏仪检偏器内，由于样品介质会对偏振光的偏振态发生改变，而这种改变会被椭偏仪测量，椭偏仪就是利用这个介质对偏振光性质改变的原理来表征介质的性质的。
SE300型号实现400nm到1000 nm超长波段的探测，可实现对材料紫外、可见和红外波段的全覆盖测量研究，同时可搭配自动平台扫描、自动变角、微光斑探测以及平台加热等功能满足不同应用需求。
设备配置
探测器：阵列探测器
光源：高功率的DUV-Vis-NIR复合光源
测量角度变化：手动调节
软件：TFProbe 3.2版本的软件
计算机：Inter双核处理器、19”宽屏LCD显示器
电源：110–240V AC/50-60Hz，6A
保修：一年的整机及零备件保修
规格参数
波长范围：400nm到1000 nm
波长分辨率: 1nm
光斑尺寸：1mm至5mm可变
入射角范围：0到90度
入射角变化分辨率：5度间隔
样品尺寸：zui大直径为200mm或者150mm边长方形
基板尺寸：zui多可至20毫米厚
测量厚度范围*：5nm〜10μm
测量时间：约1/位置点
精度*：优于0.25％
重复性误差*：小于1 Ǻ
产品选型
用于反射的光度测量或透射测量；
用于测量小区域的微小光斑；
用于改变入射角度的自动量角器；
X－Y成像平台(X-Y模式，取代ρ-θ模式)；
加热/致冷平台；
样品垂直安装角度计；
波长可扩展到远DUV或IR范围；
扫描单色仪的配置；
联合MSP的数字成像功能，可用于对样品的图像进行测量等。
产品相册
SE300椭偏仪,椭偏仪,薄膜厚度
