光伏组件 el 测试仪：无损非接触式检测，不损伤光伏组件封装层_资料下载

　　竞道光电 JD-EL3 匠心打造，精益求精。厂家优惠 156-6688-6209。光伏组件表面封装层质地脆弱，外力磕碰、接触施压容易造成封装划伤、背板破损，会加速组件老化，引发水汽进入内部，造成电池片腐蚀。部分检测方式需要接触组件表面，存在划伤组件风险。这款光伏组件 EL 测试仪采用无损非接触式检测，拍摄过程设备不接触光伏组件封装层，不会对组件造成物理损伤。

光伏组件 el 测试仪

　　一、非接触成像，设备无需接触组件表面

　　设备依靠光学成像采集组件内部图像，检测时仪器和组件之间保持一定距离，镜头对准组件即可完成图像采集，整机不需要触碰组件玻璃表面与背板。整个成像采集过程没有物理接触，不会摩擦、挤压组件封装层，杜绝接触带来的表面划痕、玻璃磕碰损伤风险。

　　二、全程无损检测，保留组件原有状态

　　EL 成像原理依靠组串上电激发组件发光，光学采集图像，检测过程不会改变组件材料结构，不会对电池片、胶膜、封装玻璃产生任何影响。检测完成之后组件保持原有状态，不会因为检测作业产生新损伤，无论是新组件质量验收，还是老旧脆弱组件检测，都可以安全开展。

　　三、适合老旧、封装老化组件检测

　　运行多年的存量光伏组件，封装材料逐步老化，封装层韧性下降，轻微外力就容易造成开裂、脱层。非接触无损检测方式，无需触碰组件，在排查老旧电站缺陷时，不会加重组件老化损伤。可以安全完成老化组件健康筛查，识别内部隐裂、衰减等问题，同时保护原有封装结构。

　　四、消除检测带来的组件次生故障风险

　　传统拆卸式检测，搬运、拆装容易造成组件磕碰;接触式检测，容易划伤封装玻璃。无损非接触模式，从根源上消除检测作业造成组件次生损坏的隐患，不会因为检测工作新增故障组件，避免检测带来额外运维成本。检测完成之后组件可以继续正常投入发电运行。

　　五、产品应用价值总结

　　设备采用无损非接触式检测方式，依靠光学成像采集组件 EL 图像，检测过程仪器不接触组件封装层，不会造成划伤、磕碰等物理损伤。检测本身不会改变组件内部与封装结构，适配新组件验收与老旧组件运维检测，消除检测作业带来的次生故障风险。安全无损的检测方式，在完成组件内部缺陷筛查的同时，保护光伏组件完好，适合光伏电站全生命周期的组件健康检测工作。

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