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镀层厚度测量仪FT160

镀层厚度测量仪FT160

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更新日期:2026/9/10 12:21:15

生 产 地:日本

产品型号:

简单介绍:
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几内即可获得准确的数据。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

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详细内容

微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几内即可获得准确的数据。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

参数:

高分辨率 SDD

元素范围: 铝 - 铀

样品舱设计:开闭式

XY 轴样品台选择:自动台、晶片样品台

大样品尺寸:600 x 600 x 20 毫米

滤光片:1 或 3

毛细管聚焦光斑尺寸< 20µm

XRF控制器软件

深圳市矢量科学仪器有限公司致力于研发,生产及销售高校科研实验、工业开发、生产测试检测类仪器设备的供应商。

主营产品有:半导体行业整套设备方案、晶体生长设备、真空设备、实验室分析仪器、材料方向设备及成套方案、增材制造设备、生理化设备、电子测试类通用仪器仪表及非标自动化测试方案等。为全球高校、科研院所、企业提供精准到位的实验分析、测试及检测方案。

目公司主要代理国内外知名品牌仪器设备,非标自动化系统业务主要针对客户具体测试、检测及实验要求,精准的给出整套解决方案。目与清华大学深圳研究生院、上海交通大学、中科院安徽光学精密机械研究所、深圳大学、武汉大学等建立起校企联合合作。

镀层厚度测量仪FT160,镀层厚度测量仪

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