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引伸计标定仪厂家销售价
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品牌名称：$brandModel.Title型号：GWB-200JA型 原产地：中国大陆 更新时间：2026/10/28 12:21:59
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详细内容
GWB-200JA型 引伸计标定仪厂家销售价
产品特点：
微分测头读数内筒游标刻度0.0002㎜/格
高精密微分测头精度指标0.5um
标定仪示值误差：
校准范围不超过1/3㎜ 受检点时±0.5µm 绝对误差
校准范围超过1/3㎜ 受检点时±0.15相对误差产品详情：
GWB－200JA型引伸计标定仪，是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG 762－2007引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。
结构特点及读数方式：
1. 本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要，配置专用配件进行精密微变形量计量。2. 精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外筒及高精密螺纹副组成。其max量程25㎜；最小分度（游标分度）0.0002㎜；旋转外筒分度0.002㎜。
位移变化读数为：
L=（a+0.001b+0.0001c）-（a0+0.001b0+0.001c0）
其中： a0 b0 c0为相应位移变化前读数
a－内筒毫米刻线读数
b－外筒刻线读数
c－游标刻线读数
使用说明：
请依据JJG 762－2007引伸计检定规程要求，进行引伸计的检定：
1、根据被检引伸计的规格型号及测试的试样规格，选择与测试试样基本一致的分离试样。
2、调整两测量支臂的位置，获得适宜的检定空间；调整两测量支臂上偏心卡簧位置以使两分离试样保证同轴；调整测微头与下底座的距离，以保证测微头的有效行程。一切调整好后注意旋紧各个所需固紧部位，在检定过程中除准许运动位移的部分外，都不准许有任何滑动或松动。
3、引伸计检定范围及检测点的选择与测试：
1）检定范围应根据引伸计需要测试材料的技术参数决定。例如，使用50㎜标距引伸计测试钢材试样的σP0.2技术数据，那么请您选择1㎜的检定量程。如果测量n值则需要检定25㎜的检定量程。
2）对检定点的选择，一般每个范围不少于8点。对于上述选例在1㎜的检定量程内，一般检定10点，即每0.1㎜检一点。
3）检定引伸计时一定用整数刻度倍读法，不要用游标估算读数或小数尾数读数，因为每一次的十点读数已造成了读数的疲劳，估算读数或小数尾数读数会加剧测量误差的产生。而整数单刻线对整读法最清晰简单准确，出现误差的机率最小，即便出现也会及时发现，因为整数刻度倍读数的误差，其引伸计误差值也会成倍数增加，这种粗大误差会被很快及时发现。
4、加长立柱的使用：在使用基本立柱检定引伸计时，无法保证该引伸计的标距空间时，取掉基本立柱上保护帽，将加长立柱插入主立柱对准V型槽，旋紧上螺丝。一定要固紧后，方可使用。
主要配置：
1. 组合校准杆2件。用于组合多种模拟分离试样。
2. 刀片2件。装置于组合校准杆上：用于COD或JIC夹规检定。
3. 横试片2件。装置于组合校准杆上：用于横向引伸计的检定。
4. 板件2件。装置于组合校准杆上：用于模拟板材试样的检定。
5. φ10×120杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟10㎜以上直径试样的检定。
6. φ10×50杆件1件。置于测微头连接套内用于模拟10㎜以上直径试样的检定。
7. φ10/φ5×100变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5㎜以下直径试样的检定。
8. φ10/φ5×50变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5㎜以下直径试样的检定。
9. 170㎜加长立柱1件。用于延长标定仪高度。
10. 联接套1件。置于微分测头滑动量杆φ10端头上，连接分离试样进行检定。
维护与保养：
1.上、下支臂拆装时，应防止定位钉或钢球的脱落，抱紧卡口过紧只允许用螺钉顶开。1、仪器出厂时精密微分测量头的精度已调校好，使用中不得自行拆卸。
2.应在清洁无尘环境使用，并注意随时保持仪器的清洁无尘。
3.注意防止外力损伤及锈蚀的产生。
4.上、下支臂拆装时，应防止定位钉或钢球的脱落。
5.定期交有关计量部门复检。
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