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单晶材料X射线晶片定向仪
价格：￥ 电议
品牌名称：$brandModel.Title型号：2991系列 原产地：中国大陆 更新时间：2026/10/28 12:21:26
产品摘要：2991系列单晶材料X射线晶片定向仪应用范围：
晶片的偏差角测定；半导体Wafer的方位测定；晶体Ingod的切割面测定；各种半导体材料的方位测定；Orientation-Flat的测定。
晶片的偏差角测定；半导体Wafer的方位测定；晶体Ingod的切割面测定；各种半导体材料的方位测定；Orientation-Flat的测定。
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详细内容
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪应用范围：
晶片的偏差角测定；
半导体Wafer的方位测定；
晶体Ingod的切割面测定；
各种半导体材料的方位测定；
Orientation-Flat的测定。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格：
X射线发生器：30KV-5mA（max） Cu；
检测器：SC；
测角精度：±30s（2991F2） ±0.01°（2991G1）；
角度表示：数字表示（度、分、）；
入射狭缝：0.05 0.1 0.2mm 3种；
样品尺寸：max 6英寸（2991F2） max8英寸（2991G2）；
X射线防护罩：（option）。
991系列单晶材料X射线晶片定向仪半导体评价测定系列
·晶体、半导体材料的方位测定；
·精度高、使用寿命长；
·丰富多彩的附件。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪应用范围：
晶片的偏差角测定；
半导体Wafer的方位测定；
晶体Ingod的切割面测定；
各种半导体材料的方位测定；
Orientation-Flat的测定。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格：
X射线发生器：30KV-5mA（max） Cu；
检测器：SC；
测角精度：±30s（2991F2） ±0.01°（2991G1）；
角度表示：数字表示（度、分、）；
入射狭缝：0.05 0.1 0.2mm 3种；
样品尺寸：max 6英寸（2991F2） max8英寸（2991G2）；
X射线防护罩：（option）。
991系列单晶材料X射线晶片定向仪半导体评价测定系列
·晶体、半导体材料的方位测定；
·精度高、使用寿命长；
·丰富多彩的附件。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪应用范围：
晶片的偏差角测定；
半导体Wafer的方位测定；
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各种半导体材料的方位测定；
Orientation-Flat的测定。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格：
X射线发生器：30KV-5mA（max） Cu；
检测器：SC；
测角精度：±30s（2991F2） ±0.01°（2991G1）；
角度表示：数字表示（度、分、）；
入射狭缝：0.05 0.1 0.2mm 3种；
样品尺寸：max 6英寸（2991F2） max8英寸（2991G2）；
X射线防护罩：（option）。
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·丰富多彩的附件。
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各种半导体材料的方位测定；
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X射线发生器：30KV-5mA（max） Cu；
检测器：SC；
测角精度：±30s（2991F2） ±0.01°（2991G1）；
角度表示：数字表示（度、分、）；
入射狭缝：0.05 0.1 0.2mm 3种；
样品尺寸：max 6英寸（2991F2） max8英寸（2991G2）；
X射线防护罩：（option）。
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检测器：SC；
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角度表示：数字表示（度、分、）；
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样品尺寸：max 6英寸（2991F2） max8英寸（2991G2）；
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X射线防护罩：（option）。
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样品尺寸：max 6英寸（2991F2） max8英寸（2991G2）；
X射线防护罩：（option）。
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入射狭缝：0.05 0.1 0.2mm 3种；
样品尺寸：max 6英寸（2991F2） max8英寸（2991G2）；
X射线防护罩：（option）。
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检测器：SC；
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角度表示：数字表示（度、分、）；
入射狭缝：0.05 0.1 0.2mm 3种；
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