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VersaProbe Scanning ESCA Microprobe 化学分析电子光谱仪
价格：￥ 电议
品牌名称：$brandModel.Title型号：PHI 5000 原产地：中国大陆 更新时间：2026/10/28 12:21:26
产品摘要：PHI 5000 VersaProbe 为多功能的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
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详细内容
PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe 化学分析电子光谱仪
PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
PHI 5000 VersaProbe 为***的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
Scanning X-ray Microprobe 之设计 :
类似于SEM之功能及操作的便利性
解析度高达10 μm
五轴式电脑控制样品平台 :
具备Compucentric Zalar Rotation能力及程式化控制蚀刻速率
利的双射线束电性中和 :
分析不导电样品时，不需做特别的置样品准备
自动分析多样性之绝缘体样品
配件多样化 :
C60离子枪、样品温度控制、UV光源等
产业应用﹕材料,能源产业,电子,半导体产业
PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
PHI 5000 VersaProbe 为多功能的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
Scanning X-ray Microprobe 之设计 :
类似于SEM之功能及操作的便利性
解析度高达10 μm
五轴式电脑控制样品平台 :
具备Compucentric Zalar Rotation能力及程式化控制蚀刻速率
利的双射线束电性中和 :
分析不导电样品时，不需做特别的置样品准备
自动分析多样性之绝缘体样品
配件多样化 :
C60离子枪、样品温度控制、UV光源等
产业应用﹕材料,能源产业,电子,半导体产业
PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
PHI 5000 VersaProbe 为***的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
Scanning X-ray Microprobe 之设计 :
类似于SEM之功能及操作的便利性
解析度高达10 μm
五轴式电脑控制样品平台 :
具备Compucentric Zalar Rotation能力及程式化控制蚀刻速率
利的双射线束电性中和 :
分析不导电样品时，不需做特别的置样品准备
自动分析多样性之绝缘体样品
配件多样化 :
C60离子枪、样品温度控制、UV光源等
产业应用﹕材料,能源产业,电子,半导体产业
PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
PHI 5000 VersaProbe 为多功能的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
Scanning X-ray Microprobe 之设计 :
类似于SEM之功能及操作的便利性
解析度高达10 μm
五轴式电脑控制样品平台 :
具备Compucentric Zalar Rotation能力及程式化控制蚀刻速率
利的双射线束电性中和 :
分析不导电样品时，不需做特别的置样品准备
自动分析多样性之绝缘体样品
配件多样化 :
C60离子枪、样品温度控制、UV光源等
产业应用﹕材料,能源产业,电子,半导体产业
PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
PHI 5000 VersaProbe 为***的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
Scanning X-ray Microprobe 之设计 :
类似于SEM之功能及操作的便利性
解析度高达10 μm
五轴式电脑控制样品平台 :
具备Compucentric Zalar Rotation能力及程式化控制蚀刻速率
利的双射线束电性中和 :
分析不导电样品时，不需做特别的置样品准备
自动分析多样性之绝缘体样品
配件多样化 :
C60离子枪、样品温度控制、UV光源等
产业应用﹕材料,能源产业,电子,半导体产业
PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
PHI 5000 VersaProbe 为多功能的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
Scanning X-ray Microprobe 之设计 :
类似于SEM之功能及操作的便利性
解析度高达10 μm
五轴式电脑控制样品平台 :
具备Compucentric Zalar Rotation能力及程式化控制蚀刻速率
利的双射线束电性中和 :
分析不导电样品时，不需做特别的置样品准备
自动分析多样性之绝缘体样品
配件多样化 :
C60离子枪、样品温度控制、UV光源等
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PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
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Scanning X-ray Microprobe 之设计 :
类似于SEM之功能及操作的便利性
解析度高达10 μm
五轴式电脑控制样品平台 :
具备Compucentric Zalar Rotation能力及程式化控制蚀刻速率
利的双射线束电性中和 :
分析不导电样品时，不需做特别的置样品准备
自动分析多样性之绝缘体样品
配件多样化 :
C60离子枪、样品温度控制、UV光源等
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PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
PHI 5000 VersaProbe 为多功能的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
Scanning X-ray Microprobe 之设计 :
类似于SEM之功能及操作的便利性
解析度高达10 μm
五轴式电脑控制样品平台 :
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利的双射线束电性中和 :
分析不导电样品时，不需做特别的置样品准备
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配件多样化 :
C60离子枪、样品温度控制、UV光源等
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特点说明:
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Scanning X-ray Microprobe 之设计 :
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解析度高达10 μm
五轴式电脑控制样品平台 :
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解析度高达10 μm
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PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
PHI 5000 VersaProbe 为多功能的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
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五轴式电脑控制样品平台 :
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PHI 5000 VersaProbe 为***的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
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PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
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PHI 5000 VersaProbe 为多功能的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
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分析不导电样品时，不需做特别的置样品准备
自动分析多样性之绝缘体样品
配件多样化 :
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特点说明:
PHI 5000 VersaProbe 为***的X-ray光电子能谱仪，可组合上许多配件增加其应用范围，尤其为C60离子枪更能克服表面分析长期以来对有机结构作深度分析的困难，使得表面分析在对有机结构的认识更进步。
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配件多样化 :
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PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe
特点说明:
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