日立高新扫描电子显微镜FlexSEM 1000 I

扫描电子显微镜可对材料的表面进行高倍率观察及高精度元素分析，在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等域有着广泛的应用。FlexSEM 1000主机宽450mm、长640mm，相比SU1510型号体积减小52%，重量减轻45%，功耗减小50%，且配备标准化的电源接口。主机与供电单元可分离，安装非常灵活。 近年来，扫描电镜观察表面精细结构及元素分析的需求日趋增加，而越来越多的用户希望能在生产线、品保检验线和办公区等有限的空间里使用扫描电子显微镜。因此，体积小、操作简便、分辨率高的扫描电子显微镜备受关注。FlexSEM 1000主机宽450mm、长640mm，相比SU1510型号体积减小52%，重量减轻45%，

此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现直观的视野移动。FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。

• 全新的用户界面，无论用户的熟练程度如何，都可实现高画质和高处理能力

• 全新的定位功能“SEM MAP”，支持观察时的视野搜索和样品定位

• 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型^*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率

• 凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD^*2），可在低加速/低真空下观察时实现清晰的画质

• 大直径（30毫米²）无氮EDS检测器，可快速进行元素分析^*2

*1设置到桌面上时，请将机体与电源盒分离

*2选项