AFM100 Plus/AFM100系统是以在研发、生产、教育等各种场合普及AFM应用为目的，

并追求操作性、可靠性及高效率观察的通用型高分辨扫描探针显微镜系统。

预装探针系统实现可靠的探针更换

.质保期十八个月，终生免费维护。窗口关闭式采样探子
2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应.
4.保证及时向用户以优惠的价格提供所需的备品备件和易损件

多功能扫描探针显微镜
主要用途：
可在大气、液体及电化学条件下对样品微区（微米至纳米量）进行形貌及其物理特性的观测分析。

主要特点介绍：
1、多功能测量：能实现高分辨的形貌测量，除用于测量各种物质的表面形貌外，能测量多种材料如无机物非金属材料、金属材料、高分子材料、复合材料和生物材料的多种物性，包括磁力、摩擦力、粘弹性、表面电位势、静电力、压电响应、电流像、电流隧道谱、电容等等。
2、液体及电化学环境测量：实现液体环境下进行接触式和轻敲式AFM测量以及电化学环境中进行AFM及STM测量。
3、独特的功能（详细功能介绍请参见下述功能模式介绍）：

4、精密的设计：系统包含防震和隔音设备，满足一般条件下进行各种高分辨的测量；并可与多种设备联用，如纳米力学系统、铁电分析仪等。

一键自动测量/处理/分析

利用AFM标记功能实现同视野的AFM－SEM－EDS观察分析