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TESTIK-9实验室材料电输运性质测量研究设备锦正茂
可以进行霍尔效应、r-h特性、r-t特性和i-v特性的测量，可得出参数：方块电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度和导电类型，可绘制以上参数随温度或磁场的变化曲线，以及i-v特性——不同磁场和不同温度下的i-v特性曲线，r-h特性——固定温度，电阻随着磁场变化的特性曲线，r-t特性——固定磁场，电阻随着温度变化的特性曲线。
价 格：￥电议型 号：TESTIK-9产 地：中国大陆
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实验室材料电阻霍尔效应电输运性质研究仪器
可以进行霍尔效应、r-h特性、r-t特性和i-v特性的测量，可得出参数：方块电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度和导电类型。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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JH60E高阻型型霍尔效应测试系统半导体材料电磁研究
本仪器系统由：电磁铁、电磁铁电源、＊精度恒流源＊精度电压表、高斯计、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件。
价 格：￥电议型 号：JH60E产 地：中国大陆
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JH60D低温型霍尔效应测试仪半导体材料电磁学研究
为本仪器系统门研制的jh10 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。
价 格：￥电议型 号：JH60D产 地：中国大陆
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TESTIK-9实验室材料电输运性质测量系统
可以进行霍尔效应、r-h特性、r-t特性和i-v特性的测量，可得出参数：方块电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度和导电类型，可绘制以上参数随温度或磁场的变化曲线，以及i-v特性——不同磁场和不同温度下的i-v特性曲线，r-h特性——固定温度，电阻随着磁场变化的特性曲线，r-t特性——固定磁场，电阻随着温度变化的特性曲线。
价 格：￥电议型 号：TESTIK-9产 地：中国大陆
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JMTS-816磁光克尔效应测量系统磁性薄膜磁输运性能测量
磁光克尔效应测量系统广泛应用于诸如磁性纳米技术、自旋电子学、磁性薄膜、磁性随机存储器、gmr/tmr等磁学域。
价 格：￥电议型 号：JMTS-816产 地：中国大陆
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定制实验室磁测量系统FCP磁场控制平台
fcp磁场控制平台是根据磁控原理设计的理想磁测量系统，磁场范围超过3t，利用testik475高斯计稳定磁场控制，适合各系列电磁铁配置，连续可变的电磁气隙，实心的和光学入口帽，线型双，真实四象限电磁铁电源。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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定制实验用磁场强度测试仪基本磁性能测量
锦正茂磁场强度测试仪可测量磁性材料的基本磁性能(如磁化曲线，磁滞回线，退磁曲线，升温曲线、升/降温曲线、降温曲线、温度随时间的变化等)，得到相应的各种磁学参数(如饱和磁化强度，剩余磁化强度，矫顽力，磁能积，居里温度，磁导率(包括初始磁导率)等，可测量粉末、颗粒、片状、块状等磁性材料。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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JH60A材料实验室电磁铁型霍尔效应测试仪
材料实验室电磁铁型霍尔效应测试仪为本仪器系统门研制的jh10 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍耳测量复杂的切矩阵开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。
价 格：￥电议型 号：JH60A产 地：中国大陆
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材料实验室半导体测量高低温真空磁场环境探针台
材料实验室半导体测量高低温真空磁场环境探针台锦正茂高低温真空探针台高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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JZM-D30室温探针台材料实验室半导体测量设备仪器
jzm-d30室温探针台材料实验室半导体测量设备仪器锦正茂jzm-d30室温探针台的诸多设计都是﹡用的，探针台的配置主要是根据用户的需求进行选配及设计。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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JZM-63H JZM-100H气氛型高温探针台半导体材料测量
气氛型高温探针台半导体材料测量快速实现室温-200℃环境的控温，可在真空环境下对样品进行光学，电学测试，测试中也可实现惰性气体的快速充放。
价 格：￥电议型 号：JZM-63H JZM-100H产 地：中国大陆
