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基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品
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更新时间:2026/4/13 21:02:45关注度:488
关键词标签:FT,,EA6000VX,和,X-Strata,系列,,微焦斑,XRF,光谱仪
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基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
应用
微焦斑 XRF 光谱仪应用于 PCB、半导体和电子行业
微焦斑 XRF 光谱仪应用于金属表面处理
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