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显示光学测量系统-Microvision

显示光学测量系统-Microvision

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更新日期:2026/9/10 12:21:03

生 产 地:美洲

产品型号:SS430

简单介绍:SS430系统是套完备的显示测量系统,它结合了SS410和SS420模块的全部功能,配置了电脑软件、位移台、自带信号源,可快速进行严谨的标准测试如TCO,VESA FPDM,ISO等,适用于现有的绝大部分显示屏测量,包括电视、显示屏、平板电脑、车载导航屏,还可以通过MV Remote控制模式,对智能手机、平板电脑等产品进行测量。

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详细内容

显示光学测量系统-Microvision

描述:SS430系统是套完备的显示测量系统,它结合了SS410和SS420模块的全部功能,配置了电脑软件、位移台、自带信号源,可快速进行严谨的标准测试如TCO,VESA FPDM,ISO等,适用于现有的绝大部分显示屏测量,包括电视、显示屏、平板电脑、车载导航屏,还可以通过MV Remote控制模式,对智能手机、平板电脑等产品进行测量。


工作原理:

SS410和SS420显示测量系统非常相似,除了光学模块本身,它们共享所有相同的组件。SS430则是这两个系统的组合。MV系统允许在两个光学模块之间轻松切换,用户可自由选择使用SS410或SS420。Spotseeker自动定位系统通过提供多个运动轴快速准确地定位SS410/420,以简化测量过程。沿着焦点轴进行水平和垂直运动。该Spotseeker可以手动驱动,也可以根据程序测试序列自动驱动。除了选择经过验证的显示测量功能外,SS430系统为自定义测试序列或多个标准(如:ISO-13406、ISO-9241、 ISO-9241-3XX、 TCO-0X)的测试提供测试套件工具。测试套件工具允许用户定义测量序列和功能,这些测量序列和功能可以保存起来以备将来调用。


产品亮点:

多功能集合体,设计紧凑

包含集成信号源

具备MV remote模式,通过WiFi连接和测量移动设备

自动化测试

程序自动控温,精确测量

包含MV系统软件,操作界面友好

提供完整测试方案

基于FPDM标准设计

用户可自定义客制化测试

NIST可溯源校准


应用范围
:

平板显示(FPD)- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma

智能移动显示 - 手机,平板

投影显示 - 选用余弦扩散器测试

抬头显示 - HUD & HDD

HDTV,NTSC, PAL & SECAM电视

适用SS90定位器可测试超大尺寸93”屏幕

CRT显示 - 单色,彩色,高分辨率医学显示器

升选项:

标准测量(VESA FPDM 2.0,TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0,ISO 9241-3XX,ISO 13406)

DUT位移台(DPS-1显示位移台,可以调整DUT x,y,z轴位置,并可调整角度,精度为0.1°)

提升测量范围(适用ND滤光片,提高感光器件的测试范围)



技术参数:

CCD相机

图像传感器:1392x1040 像素

数字视频:12-位

元件尺寸:6.45 μm/像素

同步性:同步捕获

滤镜:适光性 50%, 20%, 10% & 1% ND

标准镜头:25mm C mount, f1.6 - f16

视场:11mm,可调节

工作距离范围:0.5~3.5 m

亮度精度:± 4% @ 2856K Ill.A

亮度范围:0.05 ~ 106 cd/m2 (含ND滤镜)

测量时间:对于多数测量<1 sec

RTM 时间响应模块

光型:低噪声,快速响应光电二管

样品频率:1MHz Max. (500kHz可选)

分辨率:16位

探测器响应:20kHz(滤波)

瞬变时间:0.1ms ~ 4s(0.01ms可选RTM-HS)

同步性:软件和外部选项

重复性:3%

亮度范围:0.01 ~ 50Kcd/m2

Spectrometer + Goniometer 光谱辐射计+测角仪

测角仪倾斜角:0~85°

测角仪方位角:0~360°

波长范围:380 ~ 780nm (1000nm可选)

亮度范围:0.01 ~ 500K cd/m2

亮度精度:±3% @ 2856K Ill.A

亮度重复率:超过30分钟RSD < 0.5%,0.01 cd/m2灵敏度@ 3% RSD

色彩准确度:± 0.002 @ 2856K Ill.A

色彩重复率:± 0.0005 @ 2856K Ill.A

温度管理:电脑自动控制

光学器件:12mm 准直

视场角:1.5°

数字分辨率:16 bit A/D

积分时间:16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)

光学分辨率:3.8nm半高宽 @ 100μm狭缝

校准:NIST可追溯

操作温度:5~ 30℃

Pan & Tilt 位移台

位移距离X*Y*Z轴:2066 * 1265 * 84mm(可选)

分辨率:25.4μm / 50.8μm

速度:45mm/sec / 90mm/sec

精度:±0.05mm / 0.10mm

尺寸:2388 * 152 * 1638mm

显示光学测量系统.光学测量系统,Microvision

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