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HERCULES®  光刻集成系统

HERCULES® 光刻集成系统

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更新日期:2025/12/26 15:00:37

生 产 地:中国大陆

产品型号:HERCULES® 光刻集成系统

简单介绍:HERCULES®是一个高容量平台,将整个光刻工艺流程集成到一个系统中,从而减少了工艺尺寸并减少了操作员的支持。

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相关标签:EVG,光刻,HERCULES,集成光刻

详细内容

HERCULES®Lithography Track System

HERCULES® 光刻跟踪系统

HERCULES®是一个高容量平台,将整个光刻工艺流程集成到一个系统中,从而减少了工艺尺寸并减少了操作员的支持。

技术数据

HERCULES基于模块化平台,将EVG成熟的光学掩模对准技术与集成的晶圆清洗,抗蚀剂涂层,烘烤和抗蚀剂显影模块相结合。 HERCULES支持各种晶片尺寸的盒到盒处理。 HERCULES安全地处理厚,弯曲度高,矩形,小直径的晶片甚至设备托盘。精密的顶侧和底侧对准以及亚微米至超厚(最大300微米)抗蚀剂的涂层可用于夹层和钝化应用。出色的对准台设计可实现高产量的高精度对准和曝光结果。

特征

生产平台将EVG精确对准和抗蚀剂处理系统的所有优点结合在一起,以最小的占地面积

多功能平台支持各种形状,尺寸,高度翘曲的模具晶片甚至托盘的全自动处理

高达52,000 cP的涂层可制造高度高达300微米的超厚抗蚀剂特征

CoverSpinTM旋转盖可降低抗蚀剂消耗并优化抗蚀剂涂层的均匀性

OmniSpray®涂层可优化高地形表面​​的涂层

NanoSpray®用于涂覆和保护通孔结构

自动面膜处理和存储

光学边缘曝光和/或溶剂清洁以去除边缘珠

使用桥接工具系统对多种尺寸的晶圆进行易碎,薄或翘曲的晶圆处理

返工分拣晶圆管理和灵活的盒式系统

多用户概念(无限数量的用户帐户和配方,可分配的访问权限,不同的用户界面语言)

技术数据

对齐方式:

上侧对齐:≤±0.5 µm 底侧对齐:≤±1,0 µm

红外校准:≤±2,0 µm /基板材料,具体取决于

先进的对齐功能:手动对齐、 自动对齐、 动态对齐、 对准偏移校正

自动交叉校正/手动交叉校正、大间隙对齐

工业自动化功能:

盒式磁带/ SMIF / FOUP / SECS / GEM /薄,弯曲,翘曲,边缘晶圆处理

曝光源:汞光源/紫外线LED光源

曝光设定:真空接触/硬接触/软接触/接近模式/弯曲模式

楔形补偿:全自动-SW控制,非接触式

曝光选项:间隔暴露/洪水暴露/扇区暴露

系统控制:操作系统:Windows

文件共享和备份解决方案/无限制配方和参数,多语言用户GUI和支持:CN,DE,FR,IT,JP,KR;实时远程访问,诊断和故障排除;

EVG,光刻,HERCULES,集成光刻

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