一、产品简介

仪器采用高精度X射线荧光分析技术(HPXRF)。与传统的X射线荧光技术相比,该技术使用了先双曲面弯晶晶体,降低背景噪声,大幅提高信噪比,提高产品分析精度采用“侧照式”样品将被从侧方重直置入仪器内部。该创新设计可确保避免意外泄漏的任何样品不接触仪器中贵重部件,以方便清理和维护,避免重大损失。常压大气环境即可完成快速准确定量分析液体、粉末等样品中的硫、氯、硅、磷等轻元素,大幅降低测试成本,在轻基体下检出限可以低至 ppm 级别。

高精度X射线荧光元素分析仪

二、产品特点

◆快速

仪器操作简单、样品不需要前处理、直接装杯进样测试、5-10分钟检测完成出结果。

满足相应定量限以上的含量可得到与实验室标准方法一致性分析结果。

◆ 无需处理

样品量只需6m即可,无需添加酸碱液及各类化学试剂。

◆ 移动便携性

整机约重≤0kg,,具有良好的移动便携性可移动场地,环境适应性强，可在-1OC-5OC环境下工作。

◆ 超低检出限

以双曲面弯晶为核心的单波长激发X射线荧光光谱仪,大幅降低散射线背景,提高元素荧光信噪比。

◆ 高准确度

满足相应定量限以上的含量可得到与实验室标准方法一致性分析结果。

三、分析检测,结果准确可靠

四、应用领域

五、技术参数