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深圳市恩阳科技有限公司

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镀层厚度与ROHS分析仪XAU-4CS

  • 参考价: 咨询
  • 型号:XAU-4CS
  • 品牌: $brandModel.Title
  • 所属地区:中国大陆
  • 原产地:广东-深圳市
  • 产品摘要:镀层厚度与ROHS分析仪采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法,基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度,在基于此计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应。、可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。

产品完善度:

更新时间:2026/10/9 8:38:24关注度:728

关键词标签:镀层厚度与ROHS分析仪,XAU-4CS,元素分析仪,成分分析仪

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镀层厚度与ROHS分析仪

性能优势:

1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm2(加长测量时间可小至0.01mm2)

2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm

3.独创的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。

4.先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。

5.高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。

6.X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置。

先进的EFP算法

采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法,基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度,在基于此计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应。只需少数标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。

RoHS检测及标定

性能优势:

1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm2(加长测量时间可小至0.01mm2)

2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm

3.独创的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。

4.先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。

5.高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。

6.X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置。








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