艾思荔集成电路PCT高压加速老化试验箱采用了非常好的设计，使得每次试验加水可以联系使用200小时，并且气密性非常好，还有耗水量非常少，采用的是自动门禁，门的自动自动温度与压力检知安全门禁锁定控制有这安全门把设计已申请资质。在箱内中若出现大于常压时，测试门会被保护。

集成电路PCT高压加速老化试验箱特点介绍：

1．内压力越大的时候pct老化试验箱箱门呼吁反压导致其与箱体更加紧密结合,不同于的传统挤压式,可延长packing的寿命。

2．非常好的临界点LIMIT方式自动安全保护,在出现异常原因和故障指示灯都会显示，能够好的避免因为异常导致损失，甚至导致天损坏。

3．有着不锈钢的圆幅内衬的pct老化试验箱采用了不锈钢的的圆型设计，有了该圆幅的设计可完全的避免蒸气潜热直接冲击测试品。导致试验品损坏。

集成电路PCT高压加速老化试验箱的技术性能：

温度范围：＋100℃～＋135℃。

温度波动度：±0.5℃。

温度均匀度：±1.5℃。

湿度范围：100%R.H饱和蒸气。

湿度波动度：±1.5%R.H。

湿度均匀度：±3.0%R.H。

压力范围：

循环方式：水蒸气自然对流循环。

测时间设置：0～999Hr。

加压时间：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2约45分钟。

升温时间：由100℃升至＋132℃约10分钟非线性空载。

温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率。

相对压力：+0～4kg/cm2。

锅内压力：+0～2.8kg/cm2。

jue对压力：1.0kg/cm2～3.0kg/cm2。

安全压力容量：4kg/cm2＝1个大气压＋3kg/cm2。

集成电路PCT高压加速老化试验箱试验程序和方法：

①固定引线的一端(如基体)，用施加拉力夹具的夹头加紧引线另一端。

②给夹具上施加一定的拉力(如加砝码)。试验要求在外引线末端无冲击地施加一定的与引线平行的拉力(一般要求两牛顿），并保持不小于30的时间。

③试验判据.?若引线出现裂纹、断裂，引线与基体间出现裂纹、断开等现象，则表明该引线的抗拉强度不高，引线焊接不牢(或键合强度不足），密封性不好，应判为不合格。

例如：对于扁平封装的集成电路，规定电路的任意一根外引线在沿轴线方向上应能承受时间为10、重量为0.5kg的静负荷(圆壳封装的电路每根外引线应能承受重量为1.5kg的静负荷)。

对于晶体管，规定各类半导体三管在每根外引线上，沿着轴线方向应能承受时间10s、重童1.5kg的静电荷。直径小于0.3mm的外引线和带状外引线所加负荷的重量在各产品标准中有规定。

集成电路PCT高压加速老化试验箱特点：

在设计上我们优先的选择好的设计，以及材料中我们使用的符合工业安全标准的圆型内箱，采用了不锈钢的原型使用内箱结果，这种设计可以在试验中能够防止结露滴水。并且选择有着不锈钢的圆幅内衬，设备采用了不锈钢的的圆型设计，有了该圆幅的设计可完全的避免蒸气潜热直接冲击测试品。导致试验品损坏。并且在水位控制上采用了精密的设计，使得每次试验加水可以联系使用200小时，并且气密性非常好，还有耗水量非常少。

内压力系统也是进行了大的变动，在内压力越大的时候pct老化试验箱箱门呼吁反压导致其与箱体更加紧密结合,不同于的传统挤压式,可延长利packing的寿命。并且在非常好的临界点LIMIT方式自动安全保护,在出现异常原因和故障指示灯都会显示，能够好的避免因为异常导致损失，甚至导致天损坏。

集成电路PCT高压加速老化试验箱用途：

集成电路PCT高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，PCT高压加速寿命试验机使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的耐厌性、气密性。