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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

第2年

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聚焦离子束系统AURIGA

  • 参考价: 咨询
  • 型号:AURIGA
  • 品牌: $brandModel.Title
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  • 原产地:-
  • 产品摘要:这是一台最新设计的聚焦离子束系统,具备高分辨率成像功能。它由电子束系统(SEM)和离子束系统(FIB)组成,可以进行材料的刻蚀,沉积和TEM制样。它可以进行实时(在刻蚀或沉积时)观察(SEM)以及其它分析。

服务

  • 品质保障·资金安全·售后无忧

产品完善度:

更新时间:2026/4/13 21:04:09关注度:1992

关键词标签:聚焦离子束系统

支付方式:

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这是一台最新设计的聚焦离子束系统,具备高分辨率成像功能。它由电子束系统(SEM)和离子束系统(FIB)组成,可以进行材料的刻蚀,沉积和TEM制样。它可以进行实时(在刻蚀或沉积时)观察(SEM)以及其它分析。

AURIGA 基本参数

分辨率

SEM

FIB

GEMINI column

1.0 nm @ 15 kV

1.9 nm @ 1kV

Cobra column: 2.5 nm @ 30kV

Canion column: 7nm@ 30kV

放大倍数

12x – 1000 kx

300x – 500 kx

束流

4pA – 20 nA (80nm 可选)

1 pA – 50 nA

加速电压

0.1 - 30 kV

1.0 – 30 kV

发射器

热场(Schottky)

Ga 离子源(LMIS)

气体注入器系统

a) 5个(Pt,C,W, 碘,绝缘体,氟化物等)

b) 4个+局部电荷中和器(可使用所有的标准探测器)

c) 一个

d) 在使用局部电荷中和器时,可使用所有的标准探测器

样品台

6 轴超优中心马达台

移动范围

X,Y = 100 mm

Z = 55 mm

Z” = 10 mm

倾斜= -10 - 60度,旋转=360度 连续

AWD(分析工作距离)=5-8.5 mm

样品交换室

80 mm / 100 mm 手动样品交换

探测器

高效环形 In-lens 二次电子探测器

Everhart-Thornley二次电子探测器

镜筒内置式 EsB背散射电子探测器(带0-1500V过滤网)

二次离子探测器(SESI)

固体背散射电子探测器

BF/DF STEM探测器

样品室

330 mm(直径),266 mm(高)

15个接口可安装 STEM,4QBSD,EBSD,EDS,WDS,SIMS,GIS系统,局部电荷中和器等

2个观察用CCD.

操作显示系统

基于Windows操作系统上的SmartSEM操作界面。

由鼠标,键盘,操作杆控制或控制板(可选)







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