蔡司X射线显微镜Xradia 810 Ultra，提升了纳米级三维 X 射线显微镜的成像性能。这款创新的 X 射线显微镜能在 5.4 keV 的低能量下工作为中低原子序数样品，包括科研与工业领域内的材料成像提供的图像衬度和图像质量。通过配置原位加载台，利用无损3D成像为您提供的纳米级的压缩，拉伸以及压痕等原位力学性能测试，在负载情况下，实现50nm空间分辨率的研究样品内部结构三维演化过程。

[产品特点]

1. 同步辐射品质的实验室纳米级三维成像，分辨率高达50nm

2. 更高的图象衬度，更快的成像速度

3. 蔡司独特的 X 射线光学器件

4. 吸收衬度和泽尼克相位衬度成像

5. 4D和原位的3D成像

6. 友好的用户操作界面

7. 可选配蔡司Xradia Ultra新型样品原位加载台

[应用领域]

1. 材料科学，如三维无损分析

2. 生命科学，如微观结构成像

3. 地球科学，如地质、油气三维成像

4. 电子半导体行业，如失效分析

5. 支持原位实验条件下的三维成像

[应用案例]