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RTEC 台阶仪

RTEC 台阶仪

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更新日期:2026/4/13 21:06:53

生 产 地:

产品型号:UP

简单介绍:探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70 x70um,探针更换简单。 • 最好的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率 • X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。 • 线性XY压电陶瓷扫描 • 包括振动和不振动的模式 • 可选的侧向力和相位模成像

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相关标签:RTEC,台阶仪

详细内容

Rtec台阶仪
特点:一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜

白光干涉

白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描,对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。

• 最好的技术来实现高Z向分辨率

• 白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。
• 快速图像处理系统达到400万像素
• 四色LED相机

• 更大的垂直测量范围达10毫米

• 150 mmx150mm马达控制平台。

• 样品粗糙度,粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量,如陶瓷、塑料和辊钢。

• SPIP专业数据分析软件

原子力显微镜

探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70 x70um,探针更换简单。

• 最好的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率

• X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。
• 线性XY压电陶瓷扫描

• 包括振动和不振动的模式

• 可选的侧向力和相位模成像

RTEC,台阶仪

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