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双模式三维轮廓仪、台阶仪
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价格：￥电议
更新日期：2026/4/13 21:06:53
生 产 地：
产品型号：UP- WLI+AFM
商家名片
裘**
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详细内容
特点：一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜
白光干涉
白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描，对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。
? 最好的技术来实现高Z向分辨率
? 白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。
? 快速图像处理系统达到400万像素
? 四色LED相机
? 更大的垂直测量范围达10毫米
? 150 mmx150mm马达控制平台。
? 样品粗糙度，粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量，如陶瓷、塑料和辊钢。
? SPIP专业数据分析软件
原子力显微镜
探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70 x70um，探针更换简单。
? 最好的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率
? X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。
? 线性XY压电陶瓷扫描
? 包括振动和不振动的模式
? 可选的侧向力和相位模成像
双模式三维轮廓仪,台阶仪
