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C9920-12 外量子效率测量系统
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更新日期：2026/4/13 21:06:44
生 产 地：
产品型号：C9920-12
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石*
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详细内容
C9920-12 外量子效率测量系统
滨松 荧光/发光材料和器件参数的评估系统目录：
绝对量子效率测量系统
用于发光材料的采用光致发光法的绝对量子效率测量系统。薄型材料、液体溶液和粉末等都能被分析。
绝对量子效率测量系统Quantaurus-QY
外量子效率测量系统
采用积分球的高精度外量子效率测量系统。它实现了不受待测物发光角特性影响的高精度测量。
外量子效率测量系统：
发光材料可以由他们的荧光量子效率进行表征。对于有机/无机LED等发光器件，对应的物理参数是通过电致发光法测得的外量子效率（EL，electroluminescence）。针对这种应用，外量子效率测量系统C9920-12应运而生。
OLED器件的发光效率受多种因素的影响，包括各层和玻璃基底的吸收、表面发射、辐射角和基底波导通量等。这些因素通过作为样品室的积分球进行测量。样品放置在球内，并被固定的电流或电压激发。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 http://www.hamamatsu.com.cn/ 查看该产品更多详细信息！
详细参数
| 型号 | C9920-12 |
| 积分球 | 3.3 inch 内径， 发射材料: Spectralon |
| 探测器 | BT-CCD |
| 制冷温度 | -15 ℃ |
| 感光器件通道数 | 1024 ch |
| 波长范围 | 380 nm 到 780 nm (探测器：200 nm 到 950 nm) |
| 光纤长度 | 1.5 m |
| 光通量测量范围 | 0.00013 lm 到 0.12 lm (白光，发射面积 2x2 mm2) |
特性
?积分球的采用能使外量子效率（EQE）的测量不受样本发光角特性的影响
?软件控制能量源（KEITHLEY 2400）
?对应于每一步加载电压/电流的光谱能被瞬时测量（I-V-L测量）
?背照式制冷型CCD实现高灵敏度测量
?直观的软件易于操作，用于测量、计算和系统控制。
?可以在不同图表中绘制多种变量（电流、电流密度、电压、发光效率、色度等）。
?系统易于被扩展到绝对光致发光量子效率测量系统和光分布测量测量系统。
C9920-12,外量子效率测量系统
