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磁光克尔效应测量系统Kerr_effect_measurement_system
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品牌名称：$brandModel.Title型号：Kerr_effect_measurement_system原产地：中国大陆 更新时间：2026/10/9 8:12:27
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详细内容
磁光克尔效应测量系统
所属类别： ? 专用实验设备 ? 磁学测量
产品简介
磁光克尔效应测量系统
市场上配置最灵活的磁光克尔效应测量系统u-MOKE
当聚焦激光束照射磁性材料（主要是磁性薄膜）时，因纵向磁光克尔效应和极向磁光克尔效应会造成激光偏振态变化（克尔偏转角变化），磁光克尔效应测量系统u-MOKE就是一套精确测量克尔偏转角变化的设备。
磁光克尔效应测量系统u-MOKE通过装备的极向/面内磁体产生磁场测量偏振态的变化，可以测量分析磁性材料um量级局部区域的磁学特性。
磁光克尔测量装置，MOKE，NanoMOKE，极向克尔效应，纵向克尔效应，横向克尔效应，表面磁光克尔效应，克尔磁光效应,磁畴测量，磁滞回线测量，材料磁性测量
应用：
n 基于极向克尔效应与纵向克尔效应的微观局部磁性分析
n 适用于磁象和磁性薄膜的um尺寸灵敏度分析
n 主要参数：
光源：半导体激光器（典型405nm）
n 光斑直径：纵向测量：约5um
极向测量：约2um
n 探测灵敏度：±0.005°
n 探测范围：±1°
n 磁场：极向磁体：>±10kOe
面内磁体可选
测量项目：
磁滞回线：X轴：外加磁场H
Y轴：克尔信号θk
获得关键值（from磁滞回线）：矫顽力Hc
各项异性场Hk
反向磁化Hn
饱和磁场Hs
剩余磁化强度θr
饱和磁化强度θs
同类产品系列：
高灵敏度磁光克尔效应测量系统——灵敏度0.001°
时间分辨磁光克尔效应测量系统——时间分辨率50ps
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