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光热测量系统(光学弱吸收测量系统)
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详细内容
光热测量系统(光学弱吸收测量系统)
光热测量系统的主要用途是对不同光学元件(如镀膜、基底、晶体、界面等)的吸收特性进行表征。该装置采用泵浦-探测方式,基于热透镜效应,吸收测试在“泵浦”激光的波长下进行。为提高灵敏度,泵浦光经斩波调制,以实现对被测样品的周期性加热。探测光束感知被吸收的泵浦光所引起的加热效应。经斩波的泵浦光提供周期性加热,使探测光束的波形产生周期性扰动。光热信号表现为在较大的光电探测器电流上产生的小幅调制。平均电流(即直流信号 DC)与其在斩波频率处的小幅调制(即交流信号 AC)共同决定调制深度 AC/DC,该深度与吸收成正比。硅光电探测器采集 AC 和 DC 信号,并由调至斩波频率的双锁相放大器进行处理。

仪器的灵敏度由噪声等效吸收泵浦功率定义。理论上,灵敏度不存在绝对极限(通过更强的信号滤波,噪声总可以进一步降低);然而,在实际系统条件下(如数据采集时间限制、普通实验室环境),对多数光学材料,灵敏度优于 25 nW。因此,当泵浦输出功率为 2 W(经斩波后约 1 W)时,可检测到低至 0.025 ppm 的吸收。
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光热测量系统参数指标:
表面吸收灵敏度(透射探测器,熔融石英基底,1 W 入射泵浦功率):优于 0.25 ppm
体吸收灵敏度(透射探测器,熔融石英,1 W 入射泵浦功率):优于 5 ppm/cm
表面吸收灵敏度(反射探测器,熔融石英基底,1 W 平均入射功率):优于 0.5 ppm
斩波频率:390 Hz ± 10 Hz
探测波长:633 nm
泵浦/探测交叉角:0.12 rad ± 0.02 rad
泵浦聚焦光斑尺寸:75 µm ± 20 µm
探测聚焦光斑尺寸:225 µm ± 50 µm
横向空间分辨率(FWHM ):优于 60 µm
纵向空间分辨率(FWHM ):优于 1 mm
噪声等效吸收功率(透射探测器,熔融石英基底,表面信号):< 0.25 µW
噪声等效吸收功率(透射探测器,熔融石英,体吸收信号):< 5 µW/cm
体吸收灵敏度(透射探测器,熔融石英,1 W 入射功率):优于 5 ppm/cm
噪声等效吸收功率(反射探测器,熔融石英基底):< 0.5 µW
光热测量系统探测光:
型号:Pacific Lasertec 05-LHP-121 或其他
输出功率:2 mW(3R 级)
波长:633 nm
RMS 噪声:30 Hz–10 MHz 频段内 0.1 %
XYZ位移台:
制动器类型:步进电机
X 轴平移范围:50 mm
Y 轴平移范围:50 mm
Z 轴平移范围:50 mm
其他应用及配置,比如热扩散测量、光折变材料以及载流子特性测试,详细可咨询上海昊量光电设备有限公司。
欢迎直接联系昊量光电!
关于昊量光电:
上海昊量光电设备有限公司凭借强大的本地化销售网络与专业技术支持团队,长期服务于国内数以万计工业及科研客户,涵盖半导体、生物医疗、量子科技、精密制造、生物显微、物联传感、材料加工、光通讯等前沿领域。
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热门标签:弱吸收测量,弱吸收测量系统,晶体弱吸收测量系统













