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微小区域薄膜厚度测量仪MPROBE 40 MSP

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品牌名称：$brandModel.Title型号：MPROBE 40 MSP原产地：其它更新时间：2026/10/9 8:12:27

产品摘要：MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP用于数千种应用程序，并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度，包括多层薄膜堆叠。

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微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP用于数千种应用程序，并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度，包括多层薄膜堆叠。不同的模型主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分，这反过来又决定了可以测量的厚度范围。

微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP的应用：

1. 测量圆柱或曲面上薄膜厚度：注射器、支架、销钉、电线等。即使在高度弯曲的表面上，小点也会产生平坦的场以实现精确测量。

2. 不均匀、粗糙的涂层或光散射材料，如高雾度或纳米粒子注入薄膜。小光斑定位测量有效地减少光散射和不均匀性的影响

3.图案晶圆、MEMS 和其他需要高灵敏度领域的小区域测量的应用。

微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP基本规格：

精度	0.01nm或0.01%
准确度	0.2%或1nm
稳定性	0.02nm或0.03%
聚焦点尺寸	0.2mm或0.4mm
样品尺寸	>20mm
厚度范围	0.05⁻⁷0um
波长范围	400-1000nm

微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP选型列表：

MProbe 40	波长范围	厚度范围
VIS	400nm -1100nm	10nm – 75 μm
UVVISSR	200nm -1100nm	1nm ⁻⁷5μm
VISHR	700nm-1100nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	50nm – 85μm
UVVisF	200nm -1700nm	1nm – 85μm
UVVISNIR	200nm-800nm	1nm -5μm
NIRHR	1500nm -1550nm	10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)

*可根据要求设计定制探头

更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电

关于昊量光电：

上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；

产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国
防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，
软件开发，系统集成等优质服务。

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