Phasics SID4-Dwir波前传感器
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详细内容
SID4-Dwir 光学器件测量 自适应光学
特点:
由于其独特的专利技术技术,Phasics的SID4-Dwir波前传感器具备以下特点:
1.高分辨率:160x120测量点
2.双波长测量:3-5,8-14µm中远红外
3.消色差:可用于黑体辐射测量
4.高数值孔径测量:无需外加透镜
应用:
1.光学测量:SID4-Dwir是表征红外目标的完美工具(热成像和安全视觉),红外镜头(CO2激光)测量可出给MTF,PSF,以及泽尼克像差。消色差功能可在多波长下测试。
2.激光束测量:如CO2激光或红外OPO激光光源的特性测量,SID4-Dwir提供了一个全面的光束特性(像差,M²,强度分布,光束参数…)
SID4-Dwir产品参数:
| 波长范围 | 3-5和8-14μm |
| 通光孔径 | 10.88 x 8.16 mm2 |
| 空间分辨率 | 68 µm |
| 采样点(相位/强度) | 160 x 120 (> 19 000 points) |
| 相位相对灵敏度 | 75nm RMS |
| 相位精度 | 25 nm RMS |
| 动态范围 | ~ |
| 采样频率 | 50 fps |
| 实时分析频率 | 10 fps (full resolution) |
| 数据接口 | Giga Ethernet |
| 尺寸(w x h x l) | 85 x 118 x 193 mm |
| 重量 | ~1.6k g |
其他波前分析仪:
Phasics SID4-NIR 1.5-1.6μm近红外波前分析仪
Phasics SID4-IR-MIC制冷型中短波波红外波前分析仪
热门标签:Phasics,SID4-Dwir波前传感器,波前分析仪,波前传感器













