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上海屹持光电技术有限公司 主营产品:测距仪,激光测距仪,红外热像仪,光学类仪表,电化学发光检测仪,光学计量仪器

第4年

当前位置: 阿仪网 > 光学仪器 > 光学仪表 > 其他 > 上海屹持光电技术有限公司 > 产品展示 > 激光调制与测量 > 波分析仪 > Phasics SID4-Dwir波前传感器

Phasics SID4-Dwir波前传感器

价格:¥ 电议

品牌名称:$brandModel.Title型号: 原产地:中国大陆 更新时间:2026/9/21 7:50:13

产品摘要:基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术,SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段(3-5,8-14μm)。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率(160×120个测量点)。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量(CO2,OPO激光…)。

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产品完善度: 访问次数:562

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公司网站:http://www.eachwave.com

详细内容

基于Phasics专利(专利号CN200780005898)的四波横向剪切干涉技术,SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段(3-5,8-14µm)。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率(160×120个测量点)。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量(CO2,OPO激光…)。

说明: C:\Users\MAZHONGHUA\Desktop\图片\sid4%20dwir.jpg 说明: C:\Users\MAZHONGHUA\Desktop\图片\optics%20metrology.png 说明: C:\Users\MAZHONGHUA\Desktop\图片\laser%20metrology.png

SID4-Dwir 光学器件测量 自适应光学

特点:

由于其独特的专利技术技术,Phasics的SID4-Dwir波前传感器具备以下特点:

1.高分辨率:160x120测量点

2.双波长测量:3-5,8-14µm中远红外

3.消色差:可用于黑体辐射测量

4.高数值孔径测量:无需外加透镜

应用:

1.光学测量:SID4-Dwir是表征红外目标的完美工具(热成像和安全视觉),红外镜头(CO2激光)测量可出给MTF,PSF,以及泽尼克像差。消色差功能可在多波长下测试。

2.激光束测量:如CO2激光或红外OPO激光光源的特性测量,SID4-Dwir提供了一个全面的光束特性(像差,M²,强度分布,光束参数…)

SID4-Dwir产品参数:

波长范围

3-5和8-14μm

通光孔径

10.88 x 8.16 mm2

空间分辨率

68 µm

采样点(相位/强度)

160 x 120 (> 19 000 points)

相位相对灵敏度

75nm RMS

相位精度

25 nm RMS

动态范围

~

采样频率

50 fps

实时分析频率

10 fps (full resolution)

数据接口

Giga Ethernet

尺寸(w x h x l)

85 x 118 x 193 mm

重量

~1.6k g

其他波前分析仪:

Phasics SID4系列波前分析仪

Phasics SID4-UV 紫外波前分析仪

Phasics SID4可见光波前分析仪

Phasics SID4-HR可见高分辨率波前分析仪

Phasics SID4-NIR 1.5-1.6μm近红外波前分析仪

Phasics SID4-Swir 短波近红外波前分析仪

Phasics SID4-Dwir中长波红外波前分析仪

Phasics SID4-IR-MIC制冷型中短波波红外波前分析仪

Phasics SID4-Lwir长波红外波前分析仪

热门标签:Phasics,SID4-Dwir波前传感器,波前分析仪,波前传感器

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