Phasics SID4 UV波前传感器
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详细内容
Phasics利用其专利(专利号CN200780005898)的四波横向剪切干涉技术,在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率(250x250测量点)和高灵敏度(0.5 nm RMS)。这确保了UV镜头,表面和UV激光束测试的精确性。由于它小巧,易于使用,能有效地适应各种实验条件。
SID4-UV 光学器件测量 自适应光学
特点:
由于其独特的专利技术技术,Phasics的SID4 UV波前传感器具备以下特点:
1.超高分辨率:250x250测量点
2.高灵敏度:0.5nm
3.直接测量:测量光学元件和发散光无需中继透镜
4.高性价比:光束和透镜测量高性价比解决方案
应用:
SID4 UV紫外波前传感器提供应用:
紫外激光器:光束测试与校正
紫外镜头的质量控制:个镜头的MTF和畸变,容易且准确的离轴测量
表面检查:曲率半径,三维形状
SID4 UV产品参数:
| 波长范围 | 250 - 400 nm |
| 通光孔径 | 8 x 8 mm2 |
| 空间分辨率 | 32 µm |
| 采样点(相位/强度) | 250x 250 |
| 相位分辨率 | 0.5nm RMS |
| 相位精度 | 10 nm RMS |
| 动态范围 | 200 µm |
| 采样频率 | > 30 fps |
| 实时分析频率 | >3 fps (full resolution) |
| 数据接口 | Giga Ethernet |
| 尺寸(w x h x l) | 51 x 51 x 76 mm |
| 重量 | ~300 g |
其他波前分析仪:
Phasics SID4-NIR 1.5-1.6μm近红外波前分析仪
Phasics SID4-IR-MIC制冷型中短波波红外波前分析仪
热门标签:Phasics,SID4,UV波前传感器,波前分析仪,波前传感器













