显微实时扫描自相关仪
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详细内容
AA-M双通道实时扫描自相关仪
AA-M双通道实时扫描自相关仪提供了2个同步的测量点,1个位于显微镜的焦平面上,另1个位于激光束的合适位置,例如:在显微镜输入的前端,然后比较2束脉冲的测量值,来确定显微镜光学部件引起的脉冲延展,在很多情况下,显微镜焦点处的超短脉冲因“群速色散”而导致脉冲时间加宽,这一测量对于校正超短脉冲和提高非线性光学成像 (例如:双光子) 效率,降低脉冲激发的次数和能量,获得成功的实验结果是非常重要的;这一测量还能确定出样品曝光的时间,据此来优化激发强度,修正参数,以降低样品的激光损伤。

产品特性:
- 输入脉冲宽度范围20 - 12000 fs *
- 外部和内部光电探测器
- 扫描速率0.1 -20 Hz *
- 线性畸变小于1% *
- USB连接*
- 全反射器件*
- 位置测量*
- 条纹分辨自相关函数*
- 旁路功能*
典型应用:
- 多光子显微镜
- 显微镜或器件中经历色散前后的飞秒脉冲宽度测量
- 色散值比较,确定各种光学元件色散
AA-M | ||
波长范围, nm | V**: 450⁻⁷00 nm | |
探测器数量 | 2 (含外部探测) | |
脉宽范围, fs | 20-12000 | |
输入重频 | >10 kHz | |
灵敏度 | 100 mW2 | |
输入偏振,线性 | 水平(垂直可选) | |
扫描频率, Hz | 0.1-20 | |
线性畸变, % | <1% | |
共线(干涉和强度)自相关 | yes | |
PC连接 | USB | |
必要设备 | Windows电脑或者示波器 | |
光纤输入(可选) | FC/PC 或者 FC/APC | |
信号源和探测器 | 半导体双光子电导 | |
尺寸, mm | 210x164x132 (探头) | |
AA-M双通道自相仪与AA-20DD区别
AA-20DD 是一款标准的自动相关仪,其设计目的是在设备的光学头所放置的单个位置测量脉冲持续时间。AA-M 模型提供了两个同步测量点。除了自动相关仪内部的探测器外,它还包括一个外部光电探测器头,该探测器头可以放置在光学装置的其他位置(例如放置在显微镜的焦平面上)。这使得用户能够直接比较光学系统前后脉冲的持续时间,从而能够评估由诸如显微镜物镜、镜头或其他组件的光学元件的色散所引起的脉冲展宽情况。
典型应用:

更多请参考:AA-M双通道自相仪与AA-20DD区别
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