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产品展示
铜基电镀膜厚测试仪
点击次数：4914
价格：￥电议
更新日期：2026/9/9 16:27:18
生 产 地：中国大陆
产品型号：THICK800A
商家名片
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相关标签：铜基电镀膜厚测试仪,膜厚测试仪,膜厚仪
详细内容
铜基电镀膜厚测试仪
铜基电镀膜厚测试仪特点
1、镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。般测试个点只需要数10秒~3分钟，分析精度高。
铜基电镀膜厚测试仪是光物理测量，其对测试样品不会产生任何的物理、化学变化，因此，其属于无损测量。同时对测试的样品不需要任何处理，分析速度更加快捷。
2、可测试超薄镀层，如：在测试镀金产品时，低可测试0.01微米的镀层厚度，这是其他测厚设备无法达到的。
铜基电镀膜厚测试仪通过射线的方式来检测镀层的厚度，因此，其对样品的表面物质测试为灵敏，因此，其非常适合测试超薄镀层，也是目前超薄镀层常用的测量方法。
3、可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。
X射线具有定的穿透能力，因此，在测试镀层时，它可以穿透多层镀层，通过每层镀层产生的特征X射线计算其厚度，并可分析其镀层的组成。
4、可分析合金镀层厚度和成分比,这是其他测厚设备不能做到的。
5、对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。
由于铜基电镀膜厚测试仪的无损分析方法，同时仪器高度的自动化控制技术，测试中可以进行连续多点测量，不但提高测试效率，同时可以分析测试样的厚度分布情况。
6、
7、可以对极小样品进行测试，例如：螺丝、电路板焊盘、接插件的插针等。可以将X射线照射在样品的光斑调到很小的地步（小可以达到微米级，因此，超小样品的测试非常容易。
产品名称：能量色散X荧光光谱仪
型号： EDX1800B
.技术指标：
1.分析元素范围：S-U
2.测量精度：≤0.05%（含量大于96%的样品）
3.元素测量范围：PPM级-99.99%
4.高压：5kV-50kV
5.管流：50μA-1000μA
6.能量分辨率：165±5eV
二、硬件：用于镀层厚度测量和材料分析的X-射线荧光测量系统。
1. 铜基电镀膜厚测试仪X-射线管可调节的高压为30，40，50KV；
2. 高清晰度彩色摄像头,可用来观察测量位置；
3. 固定焦距，不可调焦，凹槽不可测；可调整测量位置亮度的LED照明装置；
4. 计算机系统：带有中文windows操作系统的计算机，测量软件采用简体页面；
17寸以上液晶彩色显示器 ；
惠普或爱普生或佳能彩色喷墨打印机；
5.纯元素片或通过际认证的光谱校准基片：(Ag,Cu)。
三、技术要求：
1.铜基电镀膜厚测试仪每次检测完成后，所得到的测量数值可以进行保存，需要检测报告时，可以得到完整的测试报告。正常检测结果自动保存；
2.检测件尺寸：直径尺寸φ40—200mm，高度40—400mm;
3.金属化层厚度测试(基体为90-100%AL2O3)，主要元素钼含量60-100%，厚度0-30μm；
4.金属化层表面镀镍层厚度检测：厚度范围0－－30μm；
5.无氧铜镀银层检测：银层厚度范围：0－－30μm；
6.不锈钢镀镍层厚度检测：镍层厚度范围：0-30μm；
7.可伐镀镍层厚度检测：镍层厚度范围：0-30μm；
8.无氧铜镀镍层厚度检测：镍层厚度范围：0-30μm；
9.金属化层测量时间：≤15S.
10.电镀液成分分析(主要的重金属离子含量)：
镀银溶液：KCN含量范围：50-200g/L,KAgCN(2)含量范围：20-80g/L；
镀镍溶液：Na2SO4含量范围： 0-200g/L, Ni2SO4含量范围：100-300g/L；
镀铬溶液：CrO3含量范围：100-400g/L；
对于镀层测量误差：≤15%；重复性误差≤5%；
11.计数率：1300-8000cps
四.工作环境要求：
1.环境温度要求：15℃-30℃
2.环境相对湿度：<70%
3.工作电源：交流220±5V
4.周围不能有强电磁干扰。
铜基电镀膜厚测试仪,膜厚测试仪,膜厚仪
