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膜厚仪
产品展示
XRF膜厚测试仪
点击次数：4945
价格：￥电议
更新日期：2026/9/9 16:27:18
生 产 地：中国大陆
产品型号：THICK800A
商家名片
刘**
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详细内容
XRF膜厚测试仪的原理
(1) X射线荧光：能量X射线荧光光谱侧厚度法(质量膜厚度)
测试原理：
XRF膜厚测试仪是用X射线激发各种物质(如金、银、镍)的特征X射线，然后测量释放出的特征X射线的能量来表征样品，测量释放出的特征X射线的强度，并与标准片(或对照样品)进行比较，得到各种物质的厚度。，强度与厚度的对应关系在软件的背景下形成条曲线。然而，随着各种物质的强度增加，厚度值也增加，但它不是的线性关系。通过标准样本、软件和算法(算法中采用FP法和经验系数法)，得到接近实际对应关系的曲线。
XRF膜厚测试仪是用X射线激发各种物质(如金、银、镍)的特征X射线，然后测量释放出的特征X射线的能量来表征样品，测量释放出的特征X射线的强度，并与标准片(或对照样品)进行比较，得到各种物质的厚度。，强度与厚度的对应关系在软件的背景下形成条曲线。然而，随着各种物质的强度增加，厚度值也增加，但它不是的线性关系。通过标准样本、软件和算法(算法中采用FP法和经验系数法)，得到接近实际对应关系的曲线。
XRF膜厚测试仪应用优势
1、XRF膜厚测试仪镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。般测试个点只需要数10秒~3分钟，分析精度高。
XRF膜厚测试仪是光物理测量，其对测试样品不会产生任何的物理、化学变化，因此，其属于无损测量。同时对测试的样品不需要任何处理，分析速度更加快捷。
2、可测试超薄镀层，如：在测试镀金产品时，低可测试0.01微米的镀层厚度，这是其他测厚设备无法达到的。
X荧光通过射线的方式来检测镀层的厚度，因此，其对样品的表面物质测试为灵敏，因此，其非常适合测试超薄镀层，也是目前超薄镀层常用的测量方法。
3、可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。
X射线具有定的穿透能力，因此，在测试镀层时，它可以穿透多层镀层，通过每层镀层产生的特征X射线计算其厚度，并可分析其镀层的组成。
4、可分析合金镀层厚度和成分比,这是其他测厚设备不能做到的。
5、对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。
由于X荧光的无损分析方法，同时仪器高度的自动化控制技术，测试中可以进行连续多点测量，不但提高测试效率，同时可以分析测试样的厚度分布情况。
6、对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别，即，每层样品元素有明显的差别。
仪器介绍
仪器介绍
天瑞仪器XRF膜厚测试仪Think800A是专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求，特设计的款产品；
采用上照式结构，以满足不规则表面样品的测试要求；
采用美新型的Si-pin探测器，高分辨率探头使分析结果更加；
采用高度定位激光，可自动定位测试高度，以满足不同规格样品的镀层测试。同时定位激光定位光斑，以确保测试点与光斑对齐；
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
内置φ0.1mm的小孔准直器，可以满足微小测试点的镀层测试；
多重防辐射泄露设计，具有良好的射线屏蔽作用；
内置高精度移动平台，通过测试软件可视化操作：鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
采用网口传输数据，数据传输稳定且快。
性能指标:
XRF膜厚测试仪元素分析范围从硫(S)到铀(U)；
次可同时分析多24个元素，5层镀层；
分析检出限可达2 PPm，薄可测试0.005um；
分析含量般为2 PPm到99.9%；
镀层厚度般为在50um以内（每种材料有所不同）；
任意多个可选择的分析和识别模型；
相互独立的基体效应校正模型；
多变量非线性回收程序；
多次测量重复性可达0.1%；
XRF膜厚测试仪工作稳定性可达0.1%；
温度适应范围为15℃至30℃；
电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源）。
仪器配置
Si-pin电制冷半导体探测器；
X光管；
高低压电源；
开放式样品腔；
双激光定位装置；
高度传感器；
保护传感器；
保护传感器；
铅玻璃屏蔽罩；
信号检测电子电路；
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
XRF膜厚测试仪,XRF膜厚仪,膜厚测试仪,镀层测厚仪
