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产品展示
陶瓷镀钼锰测厚仪器
点击次数:5022
价格:¥电议
更新日期:2026/9/9 16:27:18
生 产 地:中国大陆
产品型号:THICK800A
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- 交换名片后展示联系方式 → →
详细内容
产品特点
X荧光射线无损厚度仪,陶瓷镀钼锰测厚仪器原理
(1) X射线荧光法(XRF):能量X荧光光谱侧厚法(质量膜厚)
测试原理:XRF测厚是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加,厚度值也增加,但不是直线关系;通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到个接近实际对应关系的曲线
陶瓷镀钼锰测厚仪器专门针对镀层厚度测量、镀层元素的的种类及含量的快速无损分析而设计,具如下特点:
1.微小焦斑X射线测量系统
2.高精度移动平台及定位装置
3.大面积高分辨率探测器
4.采用FPTHICK软件实现计算,实现对单镀层,双镀层,三镀层和合金镀层的测试
5.防碰撞保护装置保护测试机构和样品
业内难点
光斑需足够小,以实现小测试点的测量
测试点定位不准
能测试不同厚度的样品
难以兼顾高分辨率和高记数率
无法同时分析合金镀层含量和厚度
陶瓷镀钼锰测厚仪器使用的激光打孔技术,制作出Φ0.1mm以内微小孔准直器。实现了小Φ0.25mm的光斑,满足客户的测试需求。
高精度二维样品移动平台,可定位测试点,重复定位精度达5μm以内
用户可通过鼠标点击视频范围内的任意点,进行定点测试
陶瓷镀钼锰测厚仪器采用高度定位激光,自动调节测试机构的升降运动,测试不同厚度的样品具有相同的测试距离,从而了结果的正确性。
采用大面积(25mm^2)Si-pin 半导体探测器,即实现高分辨率,亦足够高的记数率,从而实现测量。
采用FPTHICK软件:通过复杂的数学运算,计算出每中元素之间的相互影响系数,对测试结果进行修正,能提高测试的度。
该软件不但能计算出合金镀层的厚度,可同时分析出该合金镀层中各种元素的含量,实现厚度含量步到位。
技术参数
1元素分析范围从硫(S)到铀(U);
2.2次可同时分析多24个元素,5层镀层;
2.3分析检出限可达2 PPm,薄可测试0.005um;
2.4 分析含量般为2 PPm到99.9%;
2.5镀层厚度般为在50um以内(每种材料有所不同);
2.6任意多个可选择的分析和识别模型;
2.7相互独立的基体效应校正模型;
2.8多变量非线性回收程序;
2.9多次测量重复性可达0.1%;
2.10工作稳定性可达0.1%;
2.11温度适应范围为15℃至30℃;
2.12电源:交流220V±5V;(建议配置交流净化稳压电源)。
产品优势
3.1 陶瓷镀钼锰测厚仪器Think800A是专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求,特设计的款产品;
3.2 采用上照式结构,以满足不规则表面样品的测试要求;
3.3 采用美新型的Si-pin探测器,高分辨率探头使分析结果更加;
3.4 陶瓷镀钼锰测厚仪器采用高度定位激光,可自动定位测试高度,以满足不同规格样品的镀层测试。同时定位激光定位光斑,以确保测试点与光斑对齐;
3.5 高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm;
3.6 内置φ0.1mm的小孔准直器,可以满足微小测试点的镀层测试;
3.7 多重防辐射泄露设计,具有良好的射线屏蔽作用;
3.8 内置高精度移动平台,通过测试软件可视化操作:鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;
3.9 采用网口传输数据,数据传输稳定且快。
公司介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售体型企业。 2011年1月25日,天瑞仪器在深圳创业板块上市。股票代码为300165。分析仪器行业的上市公司,公司现有员工1100人,包括研发部、技术部、生产部、内业务部及海外市场部、品管部、计划部、采购部、仓管部、人力资源部、财务部、及董秘处和行政部等部门,且公司规模日益壮大。公司拥有际流的X荧光分析技术领域的专家队伍,具有雄厚的资金势力、的技术水平、流服务标准和的管理模式。同时,公司与内外相关领域的专业研究院所和企业保持着密切的合作关系,实时追踪际X荧光分析领域前沿的理论和技术。目前公司已被授予“家民营科技企业”、“江苏省高新技术企业”、“苏州市分析仪器工程技术研究中心”、 “江苏省昆山市企业技术中心”、“江苏省昆山市产品质量监督检验所检测二室”等称号。



