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xrf镀层分析仪

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价格：￥电议

更新日期：2026/9/9 16:27:18

生产地：中国大陆

产品型号：THICK800A

简单介绍：天瑞仪器是内分析仪器的龙头企业，内分析仪器行业的上市公司，股票代码：300165，1992年成立至今，直专门于X射线荧光光谱仪的研发、生产、销售及服务。经过整整25年的技术积累，已拥有多项专利和高精尖技术，至今，天瑞仪器以为百多个家和地区供应超过5万台分析仪器。

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相关标签：xrf镀层分析仪,镀层分析仪

详细内容

xrf镀层分析仪

xrf镀层分析仪的特点是

1，xrf镀层分析仪快速，无损，对样品无需处理。通常，测试点只需要10秒到3分钟，分析精度很高。
X射线荧光分析仪是种光物理测量，不会对测试样品产生任何物理或化学变化。因此，它是种非破坏性测量。同时，测试样品不需要处理，分析速度更快。
2，可以测试超薄涂层，如：在镀金产品的测试中，小测试厚度为0.01米，这是不可能与其他厚度测量设备。
X射线荧光用于检测涂层的厚度。因此，它对样品的表面材料敏感。因此，它非常适合测试超薄涂层。它也是超薄涂层的常用测量方法。
3，可以测试多种涂层，分析精度远高于其他测量方法。 X射线具有定的穿透力。因此，在测试涂层时，它可以穿透多层涂层，通过每层产生的特征X射线计算每层的厚度，并分析涂层的成分。
4，xrf镀层分析仪可以分析合金涂层的厚度和成分比，这是其他厚度测量设备无法做到的。
5，对于样品可以连续多点测量，适合分析涂层的厚度分布，可以测量样品的复杂表面。
由于X射线荧光的无损分析方法和仪器的自动控制技术，了测试中可以进行连续多点测量，不仅提高了测试效率，还分析了测试样品的厚度分布。
6。所分析的多层镀层的材料之间存在明显的区别，即每层的元素有明显的差异。
由于通过特征X射线分析X射线荧光的待测样品的厚度，因此每层的材料应该明显不同。
7，不能测试超厚样品，普通金属电镀的总厚度般不超过30微米。
根据各种元素的能量，测量范围不同，例如：
原子级为25~40，原子级约为0.01~30um，为41~51，约为0.02~70um，但陶瓷上的涂层比较普通。金属电镀工艺，密度会很小，所以可以测试较厚，如未烧结的MoMn涂层可以测试超过150微米。
8，可以测试非常小的样品，例如：螺钉，电路板垫，插件的拾取针等。可以使用X射线将样品的光斑尺寸调整到很小的水平（小到微米级别）因此，超小样品的测试非常容易。
9，属于对比分析仪器，测试不同的电镀样品需要不同的电镀标准，虽然有FP方法测试软件，在精密测试中，标准样品必须因此，校对，企业应用程序中校对的标准方法是常见的。

仪器介绍
xrf镀层分析仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

应用领域
铁基
铜基
锌基
镁铝合金
塑胶基体

1 快速：般测量个样品只需要30S～300S，样品可不处理或进行简单处理；
2 无损：物理测量，不改变样品性质；
3 ：对样品可以分析；
4 直观：直观的分析谱图，元素分布幕了然，定性分析速度快；
5 环保：检测过程中不产生任何废气、废水。

参数规格
1 分析元素范围：S-U
2 xrf镀层分析仪同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限高达0.005μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5 定位精度：0.1mm
6 测量时间：30s-300s
7 计数率：1300-8000cps
8 Z轴升降范围：0-140mm
9 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)

性能特点
1 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
3 高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
4 采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
5 定位激光定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
6 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
7 高分辨率探头使分析结果更加；
8 良好的射线屏蔽作用；
9 测试口高度敏感性传感器保护；

安装要求：
1 环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：<70%
3 工作电源：交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。