产品介绍:
SU7000采用全新设计的探测器,使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。SU7000通过新研发的样品仓以及检测器系统,可在不改变WD的条件下更高效地接收各种信号,缩短了样品观察和分析的时间,提高了测试效率。它还标配超大样品仓,增设了附件接口,可适用于各种样品的观察与分析。
主要特点:
在相同WD的条件下,可同时实现二次电子、背散射电子观察与X射线分析*多可同时实现6通道检测与显示可配置1 8个附件接口
应用域:
金属复合材料半导体器件EBSP分析
产品介绍:
SU7000采用全新设计的探测器,使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。SU7000通过新研发的样品仓以及检测器系统,可在不改变WD的条件下更高效地接收各种信号,缩短了样品观察和分析的时间,提高了测试效率。它还标配超大样品仓,增设了附件接口,可适用于各种样品的观察与分析。
主要特点:
在相同WD的条件下,可同时实现二次电子、背散射电子观察与X射线分析*多可同时实现6通道检测与显示可配置1 8个附件接口
应用域:
金属复合材料半导体器件EBSP分析
产品介绍:
SU7000采用全新设计的探测器,使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。SU7000通过新研发的样品仓以及检测器系统,可在不改变WD的条件下更高效地接收各种信号,缩短了样品观察和分析的时间,提高了测试效率。它还标配超大样品仓,增设了附件接口,可适用于各种样品的观察与分析。
主要特点:
在相同WD的条件下,可同时实现二次电子、背散射电子观察与X射线分析*多可同时实现6通道检测与显示可配置1 8个附件接口
应用域:
金属复合材料半导体器件EBSP分析