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高速信号PCI-Express 主板信号质量测试 信号完整性测试
高速信号pci-express 主板信号质量测试 信号完整性测试很多工程师已经意识到了信号完整性和电源完整性的仿真的重要性，但是现实却也存在些困难，比如：仿真模型难以获取，仿真模型、仿真参数不准确，仿真软件比较复杂，仿真需要较深厚的理论基础等等。
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pcie2.0x16 眼图测试 物理层一致性测试
pcie2.0x16 眼图测试 物理层致性测试传统的源同步时钟总线系统般多采用并行单端信号，典型幅度在从 ttl-5v,cmos- 3.3v/1.8v 左右。在设计和测试上遇到的信号完整性问题主要是反射和串扰，经常强调如何有效利用示波器的触发功能进行定位和捕获并分析,对示波器的波形捕获率及毛刺触发和建立/保持触发等能力均有很高要求。
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如何进行PCI-Express 的一致性测试和分析，眼图分析
如何进行pci-express 的致性测试和分析，眼图分析。全球先的测试、测量和监测仪器的提供商--泰克公司(nyse: tek)日宣布，为dpo7000和dpo/dsa70000系列示波器推出种新的抖动和眼图分析软件dpojet。dpojet扩展了现有的tdsjit3和tdsrte产品的性能，改善了工程测试的精度、速度和效率。
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插上PCI-Express板子 系统起不来 故障问题分析
插上pci-express板子 系统起不来 故障问题分析 pcie wikipci express port bus driver support for linuxpcie driver development for exynos socdm81xx_am38xx_pci_express_e
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PCI-Express 显卡 信号质量测试 信号完整性测试
pci-express 显卡 信号质量测试 信号完整性测试。pci-express(peripheral component interconnect express)是种高速串行计算机扩展总线标准，它原来的名称为“3gio”，是由英特尔在2001年提出的，旨在替代旧的pci，pci-x和agp总线标准。
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pcie2.0x8 眼图测试 物理层一致性测试
pcie2.0x8 眼图测试 物理层致性测试在个处理器系统中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信号线组成32对差分信号，其中16对petxx信号用于发送链路，另外16对perxx信号用于接收链路。除此之外pcie总线还使用了下列辅助信号。
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pcie2.0x4 眼图测试 物理层一致性测试
pcie2.0x4 眼图测试 物理层致性测试集成电路的发明是人类历史上的大创举，它大地推动了人类的现代文明进程，在天无时无刻不在影响着我们的生活。进入 21 世纪以来，集成电路的发展则更是狂飙猛进。天的大规模集成电路生产和制造工艺已经达到 10 nm 量产水平，更高的集成度意味着同等体积下提供了更高的性能，当然对业内从业者来说遇到的挑战和问题也就越来越严峻。
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Pcie3.0x16 眼图测试 物理层一致性测试
pcie3.0x16 眼图测试 物理层致性测试获得的信号波形没有出现非单调的情况。按照以上设计改板后的测试结果与仿真 致。 如果不进行仿真，那么只能在产品设计完成之后进行测试才能发现问题，如果要改善， 只能再改板调整，还可能出现改板很多次的情况，这样就会延迟产品上市时间并增加物料成本。
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Pcie3.0x8 眼图测试 物理层一致性测试
pcie3.0x8 眼图测试 物理层致性测试deviceid和vendor id寄存器这两个寄存器的值由pcisig分配，只读。其中vendor id代表pci设备的生产厂商，而device id代表这个厂商所生产的具体设备。如xilinx公司的k7，其vendor id为0x10ee，而device id为0x7028。
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Pcie3.0x4 眼图测试 物理层一致性测试
pcie3.0x4 眼图测试 物理层致性测试下面是个 ddr3 设计的实际案例。按照传统的方式进行设计时，工程师会按照主芯片给的设计规范进行设计。结合项目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓扑结构， ecc 放置在如下图 5 圆圈中所示位置。在生产完成后的调试过程中，发现 ddr3 的信号出现非单调性。
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Pcie1.0x16 眼图测试 物理层一致性测试
pcie1.0x16 眼图测试 物理层致性测试电子产品发展到当的时代，工程界已经积累了很多实践经验，再搭上互联网大力 发展的快车，每位工程师都可以很轻松地从其他人的工程经验分享中获得很多有价值和 有助于自己设计的经验，但是经验并不是金科玉律，也不是都适合工程师特殊的设计需求。
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Pcie1.0x8 眼图测试 物理层一致性测试
pcie1.0x8 眼图测试 物理层致性测试ci总线定义了两类配置请求，个是type00h配置请求，另个是type 01h配置请求。
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Pcie1.0x4 眼图测试 物理层一致性测试
pcie1.0x4 眼图测试 物理层致性测试日益降低的信号幅度必将带来信噪比(snr)的挑战，也即随着信号幅度越来越低，对整个 电路系统的噪声要求也越来越严格。尤其是在近 3 年来越来越热的pam 调制，比如广泛用于 200g/400g 传输的 pam-4 技术，由于采用 4 电平调制，其对信噪比的要求比采用nrz 编码的信噪比要高 9db.
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MSB-DDR-FUNC-014DDR功能验证测试，多维度核验内存整机工作逻辑
面向ddr内存系统的功能验证专项测试服务，从命令交互层面多维度核验上电初始化、读写访问、刷新、自刷新与休眠等整机工作逻辑，输出用例通过率报告与失败根因分析，支撑研发签核与固件回归。
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MSB-DDR-RST-015DDR复位信号测试，检验上电复位时序是否符合规范
面向ddr内存系统的复位信号专项测试服务，多通道同步采集reset#与vdd/vddq/ck上电时序，量化txpr、tinit、tdllk等关键参数裕量，输出标准化报告，支撑bring-up调试与量产抽检。
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MSB-DDR-INT-016DDR Interposer调试，转接板信号链路损耗专项测试
面向ddr内存测试的interposer转接板专项调试服务，量化插损、回损与串扰，输出touchstone s参数去嵌入模型，剥离工装损耗还原主板真实眼图，支撑测试工装标定与跨实验室数据比对。
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MSB-DDR-EYE-017DDR眼图专项测试，直观评估高速信号质量与裕量
面向ddr内存系统的眼图专项测试服务，量化眼高、眼宽、抖动分解与浴盆曲线，直观评估高速信号质量与模板裕量，输出标准化测试报告，支撑研发摸底、量产抽检与故障定位。
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眼图时序 + 老化可靠性测试，助力国产存储颗粒落地替代
淼森波提供眼图时序与老化可靠性联合测试，从信号质量与可靠性双维度评估国产存储颗粒，为国产颗粒落地替代提供完整验证，助力客户稳妥推进国产化。
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Emmc、DDR、SSD 一站式测试，淼森波实验室专业技术支撑
淼森波实验室提供emmc、ddr、ssd一站式测试服务，以专业技术支撑覆盖存储全品类，帮助客户在同一平台完成多种存储产品的质量验证，提升效率与数据一致性。
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Nand Flash 高速时序检测，定位建立保持时间不足等问题
淼森波提供nand flash高速时序检测，定位建立保持时间不足等时序问题，通过时序测量与波形分析判断参数是否满足要求，帮助客户优化时序配置、保障读写可靠。
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