DDR 内存整机故障多为信号 SI 缺陷与电源 PI 噪声耦合复合型问题,分开测试无法关联两者相互影响,淼森波打造 DDR 专用 SI/PI 协同测试系统,同步采集 DQ/DQS 眼图、时序、全分量抖动与内存供电纹波、瞬态压降,覆盖 DDR3/DDR4/DDR5/DDR6、LPDDR 全品类,多温多应力完整验证内存综合可靠性。测试硬件配备多通道同步示波器、标准 DDR 测试夹具、高低温温箱、动态负载工装,可模拟多 Rank 并发读写、满载算力、-40~125℃温变、电源抛负载复合工况,多路同步抓取信号与电源实时数据,直观展示电源纹波抬升抖动、温变收缩时序窗口的耦合关系。SI 信号测试模块:读写分离眼图自动采集、眼高眼宽量化、建立保持时序测量、TJ/RJ/DJ 分层抖动分解、多通道串扰评估、长时间 BER 误码压力;PI 电源模块:全频段供电纹波扫描、满载动态瞬态压降、PDN 阻抗测量、高低温电源稳定性验证。针对测试发现的蓝屏、降频、随机丢包故障,区分三类根源:内存 PCB 差分等长偏差、通道串扰;内存控制器时序、均衡参数不合理;供电去耦不足、电源分区隔离缺失。分层输出优化方案:PCB 布线调整、端接电阻匹配、时序寄存器校准、多级电源滤波布局、散热温区优化。服务覆盖服务器内存模组、AI 板载内存、工控 / 车载 LPDDR 样板调试、量产批量抽检,整套测试波形、电源曲线、温变日志完整存档,综合报告同步展示 SI 与 PI 两类指标判定,便于研发团队从信号、电源双维度同步优化硬件,一次性解决 DDR 内存高速传输不稳定各类复合型故障。