型号：X-325i


荧光法残氧仪X-325i是一款常用于制药行业集顶空残氧/溶解氧的多功能分析仪。这款设备是基于光学感应的荧光衰减法检测原理，顶空分析过程不对样品进行采样，对顶空样气体积及顶空条件（如负压）无要求，最小样气量仅需0.1ml即可完成精准分析。有别于传统方法 诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件（负压）有要求的采样分析方式。

使用荧光法特质的荧光贴片OXYDOT ，可以实现无损检测分析，应用于长期的包装稳定性研究。也可应用于溶液配液罐顶空残氧分析。


荧光法残氧仪特征：

● 零样气消耗，只需要极少的样气量，最少0.1ml

● 可实现对顶空氧及液体溶解氧同时分析检测

● 自动生成数据随时间变化曲线

● 内置温度和压力补偿

● 支持无损检测分析，实现留样分析

● 传感器免维护，无需更换

● 设备零维护，零耗材

● 数据自动无限储存，PDF导出


原理：
荧光检测原理：氧分子和荧光贴片中的荧光物质接触后，使得荧光物质发射的荧光信号减弱。信号衰减程度和氧含量成正比。制药顶空残氧/溶氧分析仪 X-325i适配器探针荧光物质通常是直径约5mm的荧光贴片，可以提前置入包装容器或采集漏斗中。或是将荧光物质安置在取样针头内，通过针头刺入包装分析。实现多样式分析。