荧光法残氧仪/顶空分析仪

荧光法是一款荧光衰减法原理的残氧分析仪，将微顶空的样气通过专门的气体采集装置采集到内部置有荧光贴片的采集漏斗。然后采用荧光法检测顶空残氧。荧光检测原理：氧分子和荧光贴片中的荧光物质接触后，使得荧光物质发射的荧光信号减弱。信号衰减程度和氧含量成正比。
荧光采样分析的检测方式与电化学的取样分析不同，荧光法只需要对样品采集最小 0.1ml的样气，并且荧光法的测试精度更高，符合 ASTM F2714-08标准测试方法。
荧光法可以适用于安瓿瓶、西林瓶、预注射等微小顶空的残氧测试，测试结果可靠，不受样气量大小的影响。

荧光法残氧仪/顶空分析仪

X-325i是一款常用于制药行业集顶空残氧/溶解氧的多功能分析仪。这款设备是基于光学感应的荧光衰减法检测原理，顶空分析过程不对样品进行采样，对顶空样气体积及顶空条件（如负压）无要求，最小样气量仅需0.1ml即可完成精准分析。有别于传统方法诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件（负压）有要求的采样分析方式。