天瑞XRF镀层膜厚仪

天瑞XRF镀层膜厚仪EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行准确检测，帮助企业准确核算成本及质量管理。

天瑞XRF镀层膜厚仪设计特点：

X 射 线 装 置

微聚焦X射线管和高分辨率的探测器配置，提高信号输出，让测量准确；根据产品测试xu求选择合适的探测器配置仪器：大窗口正比计数管、半导体探测器。

变焦装置和距离补偿

高清工业调焦摄像头可对检测距离进行补偿修正，不仅可以准确测量平面产品，针对弧面、曲面、凹槽等异形工件也可以准确检测。

微 光 聚 焦

新光路系统，减少光斑的扩散，对于多镀层和复杂合金镀层的测量较好的应对。

大空间样品仓

大的测量室尺寸适应不同规格的产品检测。

天瑞 zhuan利的智能FP 算法

一键式操作按钮配合智能化的软件算法，只需短短几秒既可，实现快速检测准确分析。

天瑞XRF镀层膜厚仪技术参数：

设计形式：台式仪器，测量盖向上开启

测量方向：从下至上

仪器重量：45kg

外型尺寸(mm)：497(W)×427(D)×468(H)

样品室尺寸(mm)：415(W)×374(D)×218(H)

X射线源

X射线管：微焦斑W靶射线管

X射线管高压、电流：jin 口 da 功率高压单元

准直器(孔径)：可选φ0.2mm,φ0.3mm,φ0.5mm,φ0.1*0.3mm,还可按要求定制其它规格

X射线检测

信号接收器：Fast-SDD大窗口探测器

分析方法：FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法

同时检测镀层及元素：可同时分析5层以上镀层，并测量24种元素

测量元素范围：13Al(铝)~92U(铀)之间的元素均可测量

检出限：金属镀层分析zui 薄可0.0025µm

厚度范围：分析镀层厚度一般在0~120µm以内(每种材质有所不同)

厚度标准偏差：RSD<3%

含量测试范围：0.1%~99.9%

检测时间：5秒以上

样品观测配置

样品照明：LED灯，下方垂直环绕照射(可调节亮度)

样品观察对焦：高分辨率彩色CCD变焦工业摄像头，沿初级X射线光束方向观察测量位置，带有经过校正的刻度和测量点指示的十字线，手动测距对焦

倍率：图像可放大倍数20x-160x,实现微小样品清晰 ding wei

样品移动平台：手动X/Y gao jing 度移动平台

防护

操作环境温湿度：0℃~30℃,湿度≤70%

工作电源：交流220V±5V

An quan 性：平台的凸出设计，开盖停止 bao hu ，多重金属及铅玻璃防止辐射，保障用户 an quan 。

天瑞XRF镀层膜厚仪应用方向：