Thick800A型X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。

Thick800A型X荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。

我公司集中了内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员，依靠科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中的特色，开发生产出的Thick800A型X荧光镀层测厚仪具有快速、、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

产品指标：

测厚技术：X射线荧光测厚技术

测试样品种类：金属镀层，合金镀层

测量下限：0.003um

测量上限：30-50um（以材料元素判定）

测量层数：10层

测量用时：30-120秒

探测器类型：Si-PIN电制冷

探测器分辨率：145eV

高压范围：0-50Kv，50W

X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；

光管靶材：Mo靶；

滤光片：专用3种自动切换；

CCD观察：260万像素

微移动范围：XY15mm

输入电压：AC220V，50/60Hz

测试环境：非真空条件

数据通讯：USB2.0模式

准直器：?1mm，?2mm，?4mm

软件方法：FlexFP-Mult

工作区：开放工作区 自定义

计算机分析系统

联想计算机；高分辨率彩色液晶显示器。

惠普打印机。

系统软件

际领先的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、

理论α系数法等多种经典分析方法，面：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的性。

电源

AC 220V～240V、50Hz 。

额定功率：350W。选配高精度参数稳压电源。

仪器尺寸、重量

样品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）

主机外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）

主机重量：约50KG。

应用:

塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

• 铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品

• 防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层

• 印制电路板和柔性电路板上的镀层

• 接插件和连接器上的镀层

• 电镀槽液分析

江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产镀层测厚仪，ROHS检测仪，气相色谱质谱联用仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF合金分析仪，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。

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