仪器介绍

X射线电镀膜厚检测仪THICK800A同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也样能胜任.自动XYZ样品台,自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品，是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的，可测量各类金属层、合金电镀厚度。

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量般为ppm到99.9% 。

镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

厂家介绍

X荧光测厚仪生产生产厂家——江苏天瑞仪器股份有限公司，新款Thick 8000X荧光测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型镀层膜厚测试仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。金属镀层分析仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、XRF镀层测厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。功能：精密测量金属电镀层的厚度；应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成。

测量范围从22(Ti)到92(U);5 层 (4 镀层 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光谱定性分析;测试方法面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987

江苏天瑞仪器股份有限公司镀层测厚仪展厅