X荧光技术具有快速、、无损的特点。可以应用到很多的领域比如： 电子电器行业、机械制造、医疗卫生、生态研究、 有色冶金、食品工业、珠宝首饰、地质勘探、煤炭、造纸、建材行业、考古、商检、电镀行业、钢铁行业、石化、稀土、石英砂、金钢砂、陶瓷等许多领域得到了越来越广泛的应用.

产品优点

1．内置高清晰摄相头,方便用户随时检测样品。

2．独特的光路增强系统,方便用户更好地观察样品。

3．特别开发的ROHS测量软件，操作界面十分友好。

4．可选的准直器系列，分别针对不同大小的样品。

5．超大样品腔，对样品尺寸无限制。

6．的移动平台，更方便地调节样品位置。

7．半导体硅片电制冷系统，弃掉液氮制冷。

8．测量ROHS，电镀镀层，元素分析，机多用。

性能指标

功能、ROHS测量性能指标

1．无损、、快速分析固体、液体、粉末物质的含量;

2．元素分析范围：欧盟ROHS规定的六种物质铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（CrVI）、多溴联苯（PBB）、多溴联苯醚（PBDE）;

3．元素含量分析范围为1PPM到99.99%;

4．测量时间：60-200秒;

5．多次测量重复性可达0.1%;

6．工作稳定性为0.1%;

7．检出限2PPM;

8．度5%;

9．能量分辨率为165EV;

10．温度适应范围为15℃至25℃;

11．电源：交流220V;

12．简洁、明了的中文ROHS分析软件界面;

功能二、镀层厚度分析其指标

1． 损、、快速测量各种电镀层的厚度;

2． 膜厚分析精度：0.01um-0.05um;

3． 小测定面积，可达0.1mm