X荧光镀层测厚仪天瑞仪器品牌 型号：Thick800A

天瑞仪器X荧光镀层测厚仪是一种利用X射线荧光(XRF)技术测量材料表面镀层厚度的精密仪器。这种非破坏性检测设备广泛应用于电子、电镀、汽车、珠宝等行业。

主要特点

1. 非破坏性检测：无需破坏样品即可测量

2. 快速准确：测量速度快，结果精确可靠

3. 多元素分析：可同时检测多种元素和镀层

4. 多镀层测量：能够测量多层镀层的厚度

5. 操作简便：用户界面友好，操作简单

工作原理

X荧光镀层测厚仪通过X射线管发射初级X射线照射样品，样品中的原子被激发后发射出特征X射线荧光。通过检测这些荧光信号的强度和能量，可以确定镀层元素的种类和厚度。

典型应用

• 电子行业：PCB板镀层厚度测量

• 电镀行业：镀金、镀银、镀镍等厚度检测

• 汽车工业：零部件表面处理层测量

• 珠宝鉴定：贵金属镀层分析

• 五金制品：防腐镀层质量控制

技术参数(典型)

• 测量范围：0.005µm-50µm(视材料而定)

• 测量精度：±1%-5%

• 测量时间：10-60秒

• 可测元素：从钠(Na)到铀(U)之间的元素

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