江苏天瑞仪器股份有限公司
第9年
EDX-V是天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术研发的一款的从上至下照射X荧光的测试仪,适用于无损分析和测量极微小部件上镀层的厚度。
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更新时间：2026/10/19 11:03:22关注度：1781
关键词标签：电镀层测试,镀层测厚仪,镀层
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EDX-V是天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术研发的一款的从上至下照射X荧光的测试仪,适用于无损分析和测量极微小部件上镀层的厚度。该款仪器采用多导毛细管X射线光学系统,对于微米级尺寸电子零件、芯片导线、晶圆微区等部件上的镀层厚度和成分分析,能进行最为高效、准确的测量。
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